판매용 중고 KLA / TENCOR 6420 Surfscan #9025222

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan Wafer Testing and Metrology Equipment는 고밀도의 고급 시스템으로 웨이퍼의 표면 상태를 정확하게 측정, 확인 및 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 이 장치는 다양한 디지털 검출기 (digital detector), 자동화된 소프트웨어 (automated software), 그리고 사용자에게 완벽하고 포괄적인 웨이퍼 테스트 및 분석 솔루션을 제공하는 기능을 갖추고 있습니다. KLA 6420 Surfscan에는 최대 200mm 직경 웨이퍼를 스캔하도록 구성 할 수있는 자동 모션 스테이지가 장착되어 있습니다. 또한 자동화된 단계는 높은 정밀도, 양방향 반복성 및 안정성을 제공합니다. 또한 TENCOR 6420 서프 스캔 (Surfscan) 에는 크고 넓은 표준 스캔 필드와 8 개의 개별 영역에서 측정 할 수있는 고급 광학 머신 (Optical Machine) 이 있으며, 큰 샘플을 측정 할 때 매우 정확하고 정확합니다. 게다가, 이 도구는 스캔의 속도, 초당 점 수, 이미지의 해상도 등을 정확하게 표시할 수 있는 고유한 스캐닝 알고리즘을 가지고 있습니다. 자산의 디지털 탐지기 (digital detector) 는 완전히 자동화되어 매우 정확하고 신뢰할 수 있는 데이터를 얻을 수 있습니다. 디지털 검출기는 안개 보정 (haze correction) 및 RGB 이퀄라이제이션 (equalization) 기능이 내장되어 있으며, 선형 또는 로그 수준으로 읽도록 구성할 수 있습니다. 또한, 검출기는 표면 프로파일과 필름 두께를 모두 측정 할 수 있습니다. 사용자는 모델의 소프트웨어 (software of the model) 를 통해 정확하고 포괄적인 측정과 다양한 익스포트 가능 형식으로 데이터를 생성할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 다양한 자동 분석/보고 툴 (analysis and reporting tools) 을 갖추고 있으며, 사용이 편리하고 편리하도록 설계되었습니다. 전반적으로 PROMETRIX 6420 Surfscan Wafer Testing and Metrology Equipment는 전례없는 정밀도와 정확도로 웨이퍼의 표면 상태를 측정하고 분석하는 데 사용할 수있는 고급적이고 정밀한 시스템입니다. 이 장치에는 다양한 디지털 검출기 (digital detector), 자동화된 소프트웨어 (automated software), 그리고 사용자가 완벽하고 포괄적인 웨이퍼 테스트 및 분석 솔루션을 제공할 수 있도록 설계된 기능이 장착되어 있습니다.