판매용 중고 KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293767198

ID: 293767198
빈티지: 1997
Automatic surface inspection system 1997 vintage.
KLA/TENCOR 6420은 KLA Corporation에서 개발 한 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체, 태양광 산업 제조업체를 위한 정확하고 안정적인 도량형 (metrology) 및 웨이퍼 (wafer) 수준의 테스트 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. KLA 6420 시스템은 고해상도, 고해상도 디지털 이미징 장치, 자동 샘플 로딩 (sample loading) 및 고속, 고속 충실도 분석이 가능한 맞춤형 도량형 소프트웨어 제품군으로 구성됩니다. 이 기계는 높은 처리량, 높은 정확도, 높은 데이터 획득 및 분석 기능을 결합하여 토폴로지 결함, 오염 물질, 입자를 신속하게 파악, 매핑, 웨이퍼 (wafer) 의 기능 및 결함에 대한 단면 뷰를 생성합니다. TENCOR 6420 툴은 정교한 이미징 자산을 사용하여 한 번에 최대 64 개의 웨이퍼 (wafer) 를 수집한 다음 특화된 도량형 소프트웨어로 데이터를 처리합니다. 이 소프트웨어는 데이터를 정교하게 분석하고, 검사 및 평가용 웨이퍼의 자세한 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 또한 강력한 멀티태스킹 (multitasking) 기능을 통해 다양한 작업을 병렬로 수행할 수 있습니다. 또한 6420 장비에는 생산 환경에서 생산성을 극대화하기 위해 설계된 포괄적인 소프트웨어 (Software) 애플리케이션이 포함되어 있습니다. 이 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 는 사용자 친화적 (User-Friendly) 으로 설계되어 운영자가 시스템에 신속하게 적응하고 생산성을 높일 수 있게 해주는 동시에 사용자의 특정 요구 사항에 맞춘 기능을 제공합니다. KLA/TENCOR 6420 장치의 핵심에는 TENCOR E-Metrology Machine 소프트웨어가 있습니다. TENCOR E-Metrology Machine 소프트웨어는 전체 KLA/TENCOR Metrology 및 분석 장비와 완벽하게 통합되는 알고리즘, 데이터 스토리지 및 분석 기능의 강력한 조합입니다. 이 강력한 조합 소프트웨어를 사용하면 웨이퍼 토폴로지를 검사, 분석, 입자 및 오염 물질 스캔, 미묘한 그라디언트 결정, 웨이퍼 (wafer) 에 있는 피쳐를 정확하게 측정, 매핑할 때 전례없는 수준의 정확성과 반복성을 제공합니다. 클라 6420 (KLA 6420) 은 가장 진보된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템 중 하나이며, 최신 인공 기술을 최고 수준의 정밀도 및 정확도와 결합합니다. 종합적이고, 정확하며, 재현 가능한 반도체 장치 제작 프로세스의 기초를 제공하도록 설계되었습니다. 높은 수준의 성능과 분석 (analysis) 을 필요로 하는 다양한 디바이스 제조업체에 이상적인, 안정성과 생산성이 뛰어난 툴입니다.
아직 리뷰가 없습니다