판매용 중고 HERMES MICROVISION / HMI Epointer2 #293616965

HERMES MICROVISION/HMI Epointer2는 반도체 도량형 실험실에서 고급 측정 기능 및 더 높은 처리량을 가능하게하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고급 광학 현미경 검사를 사용하여 반도체 필름, 에피 택시 레이어, MOS 게이트 산화물, 접촉 지형을 포함한 다양한 재료를 분석 할 수 있습니다. 이 장치는 완전하게 자동화된 웨이퍼 처리/내보내기 머신을 통합하여 로드 (loading) 와 측정 (measurments) 간에 원활하게 전환할 수 있습니다. 로보틱 암 (robotic arm) 은 테스트를위한 웨이퍼의 빠른 전송, 포지셔닝 및 정렬을 가능하게하며, 테스트 시간을 줄이고 생산성을 향상시키는 데 도움이됩니다. 혁신적인 광학 구성 (Optical Configuration) 과 직관적인 설치 (Inturitive Setup) 소프트웨어를 통해 웨이퍼 전체 영역에 걸쳐 정확하고 정확한 측정이 이루어질 수 있습니다. HMI Epointer2 (HMI Epointer 2) 도구는 지속적으로 확장되는 측정 기술을 갖춘 고해상도 광학 현미경을 사용하여 고급, 매우 민감한 데이터 획득 및 분석을 가능하게합니다. 이 자산은 통합 레이저 간섭계 (integrated laser interferometer), 레이저 이미징 포트폴리오 (laser imaging portfolio), 고급 광학 이미징 필터 (advanced optical imaging filter) 및 광대역 스캔 기능을 갖추고 있으며 자동화된 알고리즘과 수동 상호 작용을 포함한 다양한 데이터 분석 옵션을 제공합니다. 이 모델은 또한 실시간 및 동적 프로브 (dynamic probing) 옵션을 제공하여 트랜지스터 구조의 단일 장치 분석 및 테스트를 허용합니다. 이 데이터는 빠르고, 쉽게 분석하고, 진단할 수 있도록 그래픽으로 제공됩니다. 직관적인 포인트 앤 클릭 (point-and-click) 인터페이스를 통해 쉽게 설정하고 제어할 수 있으며, 정확한 측정과 향상된 테스트를 제공합니다. 이 장비는 또한 고급 (Advanced) 임베디드 소프트웨어 환경 (Embedded Software Environment) 을 갖추고 있으며, 이를 통해 테스트 매개변수를 생성하고 사용자 정의할 수 있으며, 특히 정밀 웨이퍼 테스트를 위한 강력한 도구입니다. 또한, 강력한 PC 기반 소프트웨어 및 데이터 관리 시스템을 통해 샘플의 정밀한 정렬 및 데이터 처리 (data processing) 를 통해 데이터 수집 및 분석을 위한 강력한 토대를 제공합니다. HERMES MICROVISION Epointer2 (MICROVISION Epointer 2) 는 첨단 테스트 및 도량형 장치로서, 광범위한 기능과 첨단 데이터 처리 및 분석 기능을 제공하여 보다 정확하고 정확한 테스트와 더 빠른 출시 시간을 제공합니다. 이 기계는 광범위한 애플리케이션의 엄격한 요구 사항을 충족할 수 있으며, 반도체 도량형 (semiconductor metrology) 실험실에서 와퍼 테스트를 위한 포괄적이고 비용 효율적인 솔루션을 제공합니다.