중고 HERMES MICROVISION / HMI (웨이퍼 테스트 및 계측) 판매용

Hermes Microvision (HMI) 은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비 제조업체입니다. 그들의 제품은 반도체 제조 공정의 효율성과 정확성을 향상시키기 위해 설계되었습니다. 제조 과정에서 반도체 웨이퍼의 결함 또는 불규칙성을 감지하기 위해 HMI (Wafer Testing System) 가 사용됩니다. eP3 XP 같은 이러한 장치는 다크 필드 검사 (dark field inspection) 와 같은 고급 기술을 사용하여 입자, 스크래치, 패턴 편차 등 다양한 결함 유형을 식별 할 수 있습니다. 이를 통해 제조업체는 철저한 품질 관리 (Quality Control) 조치를 수행하고 고품질 반도체 웨이퍼의 생산을 보장할 수 있습니다. Epointer2-VC 및 Epointer2와 같은 HMI 도량형 기계는 반도체 장치 구조에 대해 정확하고 안정적인 측정 데이터를 제공하도록 설계되었습니다. 이러한 도구는 SEM (Scanning Electron Microscopy) 및 TEM (Transmission Electron Microscopy) 과 같은 다양한 기술을 사용하여 치수, 프로파일 및 재료 조성과 같은 중요한 매개 변수를 정확하게 측정합니다. 이를 통해 제조업체는 반도체 장치의 성능과 품질을 검증하여 필요한 사양을 충족할 수 있습니다 (영문). HMI의 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산은 높은 정확도, 빠른 검사 속도, 종합적인 결함 감지 기능 등 여러 가지 이점을 제공합니다. 이러한 모델은 제조업체에 중요한 데이터를 제공하여 프로세스 제어 향상, 수익률 향상, 제조 비용 절감 등의 효과를 제공합니다. 전반적으로, HMI의 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 장비 (metrology equipment) 는 반도체 제조업체에 필수적인 도구이므로 고품질 반도체 제품을 달성하고 업계에서 경쟁력을 유지할 수 있습니다.