판매용 중고 BRUKER / SLOAN DEKTAK XT #9184680

BRUKER/SLOAN DEKTAK XT는 웨이퍼 및 박막 샘플의 높이, 두께, 영역 및 기타 관련 특성을 측정하기위한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고속, 고해상도 비접촉 스타일러스 프로파일러, 대용량 평면도 매핑 어플리케이션용 AMH (Large Area Measurement Head) 및 제한된 영역 평탄도 측정의 평탄도를 매핑하는 옵션 (Low-Tilt Head) 로 구성됩니다. 프로파일로미터에는 스캐닝 매개변수의 정확한 제어를 위한 선형 (linear) 및 회전 (rotary) 축이 포함됩니다. 주요 측정 헤드는 손쉽고 신뢰할 수있는 비 접촉 압전 트랜스듀서입니다. BRUKER XT (BRUKER XT) 는 다양한 기판에서 복잡한 표면 지형의 신뢰성, 정확성, 반복 가능한 측정 및 매핑을 위해 설계되었습니다. 이 장치에는 색상 코딩된 수동 (color-coded manual) 및 자동 측정 단계 (automated measurement stage) 가 포함되어 있으며, 다양한 형식으로 구성하여 다양한 응용 프로그램 가능성을 제공합니다. 사용이 편리하고 직관적인 소프트웨어를 통해 다양한 분석 및 데이터 디스플레이 (data display) 옵션을 통해 데이터를 편리하게 조작할 수 있습니다. 기계에는 선형 (linear) 또는 레이디얼 (radial) 패턴으로 샘플을 탐색하는 자동화된 단계/점프 프로파일이 포함되어 있어 부드러운 프로파일을 측정할 수 있습니다. 또한 SLOAN DEKTAK XT (옵션) 에는 도구 측정 성능을 향상시키기 위해 설계된 여러 가지 액세서리가 있습니다. 여기에는 높은 정확도의 z 위치 지정을위한 스타 자동 초점 장치 (star auto-focusing device) 와 진동 샘플을 측정하는 진동 테이블 (옵션) 이 포함됩니다. 이 자산은 오븐, 펠티어 공급 장치, 램프 전원 공급 장치, 음향 석영 진동 격리 베이스, 자기장 교정 키트 (magnetic field calibration kit) 등 온도 조절 측정을위한 다양한 장비를 제공합니다. XT 는 정확하고, 안정적이며, 재현이 가능하며, 전체 프로세스 제어를 위한 사용하기 쉬운 측정 장치로 설계되었습니다. 반도체, 전자 제품, 데이터 스토리지, 생명 공학, 유리, 재료 산업 내의 품질 보증 및 연구 응용 분야에 이상적입니다. DEKTAK BRUKER/SLOAN DEKTAK XT는 추적 가능한 결과를 통해 부드럽고 신뢰할 수있는 데이터를 제공하는 저소음 드리프트 특성을 가진 비접촉 스타일러스 측정을 제공합니다. 이러한 특성은 표준 스캐닝 전자 현미경을 사용하여 측정하기가 어려운 소규모, 임계 (critical) 기능을 정확하고 반복적으로 측정 할 수있는 이상적인 도구입니다.