중고 BRUKER / SLOAN DEKTAK (웨이퍼 테스트 및 계측) 판매용

BRUKER/SLOAN DEKTAK에서 제공하는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 반도체 산업에서 높은 평가를 받고 있습니다. 이러한 시스템은 표면 거칠기와 웨이퍼의 필름 두께에 대한 종합적인 분석 및 측정 솔루션을 제공합니다. BRUKER/SLOAN DEKTAK 장치의 주목할만한 장점 중 하나는 높은 정확도와 정확도입니다. 이러한 기계는 스타일러스 프로파일로메트리 (stylus profilometry) 및 화이트 라이트 간섭법 (white light interferometry) 과 같은 고급 기술을 사용하여 웨이퍼 표면에서 정확한 측정을 캡처합니다. 이 수준의 정확성은 프로세스 제어 및 품질 보증을 위해 안정적인 데이터를 보장합니다. BRUKER/SLOAN DEKTAK은 다양한 요구를 충족하는 다양한 모델을 제공합니다. 예를 들어, NT 3300은 다목적 시스템으로, 하부 나노 미터 해상도로 높이, 거칠기, 필름 두께를 비접촉 측정할 수 있습니다. 반면, XT 시리즈는 박막, 스텝 높이 및 기타 임계 측정에 대한 고급 프로파일로메트리를 제공합니다. IIA 시스템은 고속 인라인 웨이퍼 (in-line wafer) 검사를 위해 설계되었으며 운영 환경에 대한 실시간 분석을 제공합니다. 이러한 도구는 반도체 제조, MEMS 제조, 재료 연구 등 다양한 산업의 응용 분야를 찾습니다. 그들은 빠르고 정확한 측정 방법을 제공하며, 기업의 프로세스 간소화, 제품 생산성 향상, 웨이퍼의 무결성 보장 등을 지원합니다. BRUKER/SLOAN DEKTAK의 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산은 반도체 업계에서 품질 관리 및 프로세스 최적화를 위해 신뢰할 수있는 도구입니다.