판매용 중고 NETZSCH DIL 402C #293808344

넷츠 쉬 딜 402C (NETZSCH DIL 402C) 는 다재다능하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 핸들러 역할을하는 고정밀 (dilatometer) 로, 주로 온도 또는 시간의 함수로 재료의 차원 변화를 정확하게 측정하기 위해 재료 과학 및 공학 분야에서 사용됩니다. 이 고급 기구 는 다양 한 환경 조건 하 에 있는 물질 의 열 팽창 과 수축 특성 을 정확 하게 분석 하기 위해 설계 되었는데, 광범위한 "응용프로그램 '에 대한 물질적 행동 의 특징, 이해 에 매우 중요 한 역할 을 한다. DIL 402C 웨이퍼 핸들러 (DIL 402C wafer handler) 의 주요 목적은 연구자와 과학자들에게 재료의 열 특성에 대한 포괄적 인 데이터를 제공하는 것으로, 위상 전이, 유리 전이, 연화 점 및 재료 성능 및 안정성에 영향을 미치는 기타 중요한 매개변수의 분석을 허용하는 것입니다. 온도변형을 조절하면서 재료의 차원 변화를 정확하게 측정함으로써, 딜레이토미터 (dilatometer) 는 열팽창 계수 (thermal expansion coefficients) 의 결정과 재료 설계 및 최적화에 필수적인 구조 변화 및 기계적 특성 (mechanical properties) 의 식별을 가능하게한다. NETZSCH DIL 402C 는 고급 기술과 최첨단 구성요소를 갖추고 있어, 고감도 및 해상도로 정확하고 안정적인 측정이 가능합니다. 이 기기에는 하부 나노 미터 해상도 (sub-nanometer resolution) 로 샘플 길이 변경을 실시간으로 모니터링 할 수있는 고정밀 광학 인코더 시스템 (high-precision optical encoder system) 이 장착되어 재료에서 가장 작은 차원의 변형을 감지 할 수 있습니다. 또한, 웨이퍼 핸들러 (wafer handler) 는 견고하고 안정적인 구조로 설계되어 외부 영향을 최소화하고 정확하고 반복 가능한 결과를 보장합니다. DIL 402C의 주요 기능 중 하나는 뛰어난 용이성과 효율성으로 웨이퍼 샘플을 처리 할 수있는 능력이며, 박막 코팅, 반도체 재료 및 마이크로 일렉트로닉스, 광전자 및 고급 재료 연구에 일반적으로 사용되는 기타 웨이퍼 기반 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 도구는 사용자 친화적 인 인터페이스와 직관적인 소프트웨어 제어 (Software Control) 를 제공하여 웨이퍼 (Wafer) 샘플을 손쉽게 로드하고 처리할 수 있으며, 특정 연구 요구 사항에 맞게 측정 매개변수를 사용자 정의할 수 있습니다. NETZSCH DIL 402C 웨이퍼 핸들러 (WAR 402C Wafer Handler) 에는 특정 모델 및 구성에 따라 최대 1600 ° C 이상의 주변 조건에서 광범위한 온도 제어가 가능한 고온로 시스템이 장착되어 있습니다. 이 온도 기능을 통해 극저온 (cryogenic temperation), 고온화 (high temperated), 빠른 열 사이클링 (rapid thermal cycling) 등 다양한 열조건에 걸쳐 재료를 분석하여 다양한 작동 환경과 조건을 시뮬레이션할 수 있습니다. 결론적으로, DIL 402C 웨이퍼 핸들러 (DIL 402C wafer handler) 는 뛰어난 정확도와 정확도로 재료의 열적 특성을 조사하려는 연구자와 과학자들을위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 첨단 기술, 고감도, 사용자 친화적 인 설계를 갖춘 이 dilatometer는 매크로, 마이크로, 나노스케일 (nanoscale) 수준의 물질의 종합적인 특성화를위한 다목적 플랫폼을 제공하며, 광범위한 산업에서 재료 과학, 엔지니어링, 기술을 발전시키는 데 필수적인 도구입니다.