판매용 중고 JEOL JSM 6360LV #9412081

JEOL JSM 6360LV는 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로, 깊이와 디테일이 뛰어난 고해상도 이미지를 제작할 수 있습니다. 이것은 x-y 방향으로 5nm 해상도, z 방향으로 0.5nm 해상도로 가능합니다. 즉, 샘플 내에서 피쳐의 크기, 모양 및 방향을 정확하게 식별 할 수 있습니다. 이 시스템은 라이브 셀 이미징 (Imaging Live Cell), 표면 분석 (Surface Analysis) 및 재료 분석 (Materials Analysis) 과 같은 다양한 응용 프로그램에 유리합니다. 또한, 시스템의 초고진공 환경 (ultra-high vacuum environment) 은 이미징 중에 샘플이 최소화되어 시간이 지남에 따라 이미지가 선명하게 향상됩니다. JSM 6360LV에는 요소 분석에 사용할 수있는 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) 도 포함되어 있습니다. SEM이 샘플을 스캔 할 때, EDS는 샘플에서 방출 된 x- 레이 (X-ray) 의 에너지 스펙트럼 (energy spectra) 을 기록합니다. 그런 다음 이미징되는 물질의 조성을 결정하기 위해 분석 할 수 있습니다. 이 시스템은 기울기 (tilt) 및 샘플 회전 (sample rotation) 도 가능하므로 다양한 각도와 방향을 볼 수 있습니다. 즉, 샘플은 여러 가지 관점에서 이미징 될 수 있으며, 단일 이미지 (single image) 가 불가능하다는 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 또한, JEOL JSM 6360LV의 수직 단계 설계는 샘플 장착 및 고정밀 표본 정렬이 용이합니다. 이를 통해 샘플을 빠르고 정확하게 배치할 수 있으므로 쉽게 스캔 (scan) 을 설정하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 전반적으로 JSM 6360LV는 뛰어난 해상도, 뛰어난 심도, 디테일, 유연한 이미징 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 SEM은 라이브 셀 이미징, 서피스 분석, 재료 조사 등에 사용되든, 모든 전선에서 사용할 수 있습니다.