판매용 중고 HITACHI S-4500 Type II #293592472

HITACHI S-4500 Type II는 광범위한 연구 및 산업 응용 프로그램의 요구를 충족하도록 설계된 고성능 SEM (Desktop Scanning Electron Microscope) 입니다. 이미징 및 분석에 중점을 둔 HITACHI S-4500 TYPE-II는 대용량 샘플링 챔버 (sample chamber) 와 최대 2 초의 고해상도 이미지를 갖춘 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. S-4500 Type II는 2 차 전자 영상 (SEI), 역 산란 전자 영상 (BSE), 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 및 파장 분산 X- 선 분광법 (WDS) 과 같은 여러 이미징 기술을 사용합니다. S-4500 TYPE-II에는 초고해상도 SEM 이미징을위한 독특한 TFEG (thermal field emission gun) 전자원이 장착되어 있습니다. 더 높은 전자 용량, 더 높은 빔 에너지, 뛰어난 성능을 갖춘 TFEG 전자 소스의 고급 디자인은 사용자에게 더 높은 명암과 더 선명한 이미지로 매우 작은 샘플 기능 (< 2 nm 미만) 을 측정 할 수있는 기능을 제공합니다. HITACHI S-4500 Type II에는 큰 샘플 챔버와 다양한 액세서리가 포함되어 있어 정확한 샘플 처리가 가능합니다. 샘플 챔버에는 정확한 샘플 포지셔닝 및 교정을위한 계층 적 X-Y 스캐닝 단계, 정확한 샘플 포지셔닝을위한 전체 자동 상관 단계, 이동 단계 범위가 최대 100mm 인 전체 자동 상관 단계, 샘플 챔버에서 열 드리프트를 제거하기위한 샘플 히트 싱크 (sample heat-sink) 가 장착되어 있습니다. 샘플 시각화 및 분석을 개선하기 위해 측정 기능 (measurement function) 과 이미지에 주석 (annotation) 과 드로잉 (drawing) 을 추가하는 기능을 포함하는 여러 자동 분석 기능을 사용할 수 있습니다. HITACHI S-4500 TYPE-II는 입자 분석, 원소 매핑 및 감지, 고급 라인 프로파일링 등 광범위한 실시간 자동 분석을 지원합니다. S-4500 타입 II (Type II) 는 샘플 챔버에서 온도 안정성을 향상시키기 위해 폐쇄 루프 (closed-loop) 액티브 온도 제어 시스템을 가지고 있으며, 이는 결과의 전반적인 이미징 성능과 반복 가능성을 향상시킵니다. 광범위한 이미징, 분석, 자동화 (automation) 기능을 통해 광범위한 샘플을 상세하게 미세 구조적으로 분석할 수 있습니다.