판매용 중고 HITACHI S-4500 Type I #95309

ID: 95309
FE SEMs Specifications: Image resolution: At 30 KV: 3.5 nm with a test specimen At 1 KV: 8 nm with a test specimen Magnification: 20x ~ 300,000x Sample stage: Movement: X / Y: 0 ~ 150mm Z: 5 ~ 30 mm Tilt: 0 ~ +45° eucentric tilt Rotation: 360° Sample size: 8" (maximum), 6" square board (maximum) Sample holder: For 6" wafers Sample exchange: Airlock type (8" wafer exchangeable) Stage drive: Drive: X/Y/Z/T/R are motor driven Control: Manual control by joystick Electron optics: Electron gun: Cold field emission source Acceleration voltage (Vo): 0.5 ~ 30 KV Lens system: 360° Objective aperture: 4-openings, selectable / alignable from outside vacuum Stigmator: Electromagnetic octapole type Scanning coil: 2-stage electromagnetic Display system: Imaging signal: Secondary electron image Backscattered electron image (option) X-ray image (option) Scan mode: Normal scan, reduced area, line scan, photo scan, spot scan, analysis scan, dual mag / split screen, oblique CRT: (2) 12" viewing CRTs Frame memory: (2) 1024 x 1024 pixel memory Image processing: Auto image brightness control Auto image contrast control Gamma, dynamic stigmator monitor Auto focus, auto stigma Scan speed: Viewing: TV, 0, 3, 2, 10, 20 s/frame Recording 40, 80, 160, 320 s/frame Electrical image shift: +/- 20 um (at 30 KV, WD = 15 mm) Auto data display: Film number, accelerating voltage, magnification, micron bar, micron scale, date / year Working distance, printed on film automatically Vacuum control: System: Valve control: Full automatic, pneumatic valve control Ultimate vacuum: Electron gun: 10 to 7 Pa Sample chamber: 10 to 4 Pa Vacuum pump: IP1: 60 l/s IP2: 20 l/s IP3: 20 l/s TMP: 340 l/s (2) Rotary pumps: 145 l / min Vacuum gauge: Sample chambwer: PIRANI & PENNING gauge Exchange chamber: PIRANI gauge Utility requirement: Room temperature: 15°C to 25°C Room humidity: 60% or less (RH) Power: Single phase AC 100, 115V +/- 10%, 50 / 60 Hz, 4 KVA.
HITACHI S-4500 Type I 현미경은 산업 및 연구 실험실에서 대학에 이르기까지 다양한 응용 분야를 위해 설계된 고급 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. S-4500 타입 I (Type I) 은 높은 수준의 경제성으로, 은행을 깨지 않고 고급 이미징 및 다양한 유형의 표면 분석을 수행하려고하는 사람들에게 훌륭한 선택입니다. HITACHI S-4500 Type I에는 열 유형 전자 총이 있으며, 1x ~ 500,000x의 배율 및 해상도 옵션을 위해 다양한 전자 광학 렌즈가 장착되어 있습니다. 또한 샘플 포지셔닝을위한 V- 타입 스테이지가 낮고, 원소 구성, 화학 결합 및 기능 식별을 측정하기위한 다양한 검출기 및 액세서리가 있습니다. S-4500 Type I은 다기능 고진공 챔버를 사용하여 배경 소음 신호와 다양한 이미징 검출기를 줄입니다. 현미경은 3D 기능을 통해 나노 물질, 생물학적 표본, 중합체, 세라믹 재료 등 다양한 샘플에서 데이터를 생성 할 수 있습니다. 표본의 분석은 원소 조성을 측정하는 X- 선 분석, 화학 결합을 측정하는 전자 분광학 (electron spectroscopy), 피쳐를 측정하는 반음계 대비 이미징 (chromatic contrast imaging) 등 다양한 매개변수를 통해 수행 될 수 있습니다. 또한, 현미경에는 2 차 전자 영상, 자동 영상 및 자동 스캔과 같은 특수 기능이 있습니다. HITACHI S-4500 Type I은 절전 설계, 가변 단계 가열 및 가변 빔 전류 옵션으로 인해 에너지 효율성이 우수합니다. 또한, 시스템은 사용하기 쉬운 컨트롤 다이얼 (control dial) 과 터치스크린 모니터 (touchscreen monitor) 및 데이터 입력 오류를 줄이기 위해 설계된 도움말 (help) 기능을 갖춘 사용자 친화적이고 직관적입니다. 이미지 후 데이터 관리 측면에서 S-4500 Type I은 S4500SL 소프트웨어에서 Windows 플랫폼 용 소프트웨어에 이르기까지 다양한 옵션을 제공합니다. 또한 사내 이미지 분석, 기본 이미지 저장 (Main Image Storing) 을 위한 강력한 PC 및 네트워크 (Network) 또는 인터넷 연결 (Internet Connection) 과 같은 데이터 공유 시스템을 갖추고 있습니다. 전반적으로 HITACHI S-4500 Type I은 안정적이고 저렴한 스캐닝 전자 현미경을 찾는 사람들에게 탁월한 선택입니다. 뛰어난 성능과 다양한 기능과 액세서리를 갖춘 S-4500 Type I 는 모든 이미징 작업을 완벽하게 수행할 수 있습니다.
아직 리뷰가 없습니다