판매용 중고 HITACHI S-4500 Type I #293603166

ID: 293603166
빈티지: 1997
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Display unit SEI Electronic collection 5-Axis of movement Manual type Controller Transformer Chiller Air compressor Optional items: EDS detector and ion sputter coater Resolution: 1.5 nm Field emission electron gun High vacuum system Ion pump Diffusion pump Rotary pump Magnification configuration: 20x - 500,000x No ball field Acceleration voltage: 0.5-30 kV Operating system: Windows 7 Power supply: 220 V, 20 A, 4 kW, Single-phase 1997 vintage.
HITACHI S-4500 Type I은 HITACHI High-Technologies에서 개발한 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 기술, 탁월한 설계, 경제성을 결합한 탁월한 현미경 툴로 광범위한 연구/산업 응용에 비용 효율적인 SEM (서비스 비용) 솔루션을 제공할 수 있습니다. S-4500 장비는 기능 및 유용성 향상을 위해 설계되었으며, 최대 8nm 의 고해상도 이미징, 3 차원 표면 프로파일 측정, 초당 10 프레임의 풀 프레임 EDS 분석, 자동 입자 크기 분석 등이 있습니다. 고성능 저진동 베이스프레임 (low-vbration baseframe), 우수한 스테이지 모션 메커니즘 및 높은 전송, 생물학적 표본의 고품질 이미징을위한 저대비 2 차 전자 검출기가 장착되어 있습니다. S-4500은 자동 샘플 중심 장치 (automated sample centering mechanism) 를 갖추고 있으며, 샘플 챔버에 자동 샘플 삽입이 가능하므로 사용자가 쉽고 빠르게 실험을 설정할 수 있습니다. 또한, 시스템에는 4 축 스테이지가 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 표본을 임의의 방향으로 자유롭게 배치 할 수 있으며, 완전한 3 차원 분석이 가능합니다. 이 장치에는 저소음, 자동 교정 고해상도 이미지 검출기가 포함되어 있습니다. 이 이미지 검출기는 서브미크론 기능을 식별하고 분석하는 데 이상적인 선명하고 대조적인 이미징을 제공합니다. 또한, 소프트웨어 패키지에는 강력한 3D 이미징 기능이 포함되어 있어 표면 지형과 모양을 시각화할 수 있습니다. S-4500은 최소한의 기계적 노이즈 (mechanical noise) 로 매우 인상적인 이미징 기능을 제공하여 초저소음 (Low-Low) 노이즈 표본 처리를 위한 최적의 선택입니다. 통합 샘플 처리 장치 (Integrated Sample Handling Machine) 는 사용 편의성을 위해 설계되었으며, 샘플의 빠르고 효율적인 로드, 그립 및 위치를 제공합니다. S-4500은 다재다능하고 저렴한 좁은 각도 스캐닝 전자 현미경으로, 광범위한 표본 유형에 대한 높은 정밀 영상 및 분석에 이상적입니다. 간편한 운영, 직관적인 소프트웨어, 뛰어난 화질, 완벽한 자동 샘플 처리 (fully automated sample processing) 기능을 제공합니다. 그 결과, S-4500은 산업 품질 관리 (industrial quality control) 에서 고급 과학 연구 (advanced scientific research) 에 이르기까지 다양한 응용 분야에 이상적인 도구입니다.
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