판매용 중고 ACCRETECH / TSK MHF 400 #9194866

ACCRETECH/TSK MHF 400은 반도체 및 전자 산업의 박막 분석을 위해 설계된 프로버로, 저항성, 커패시턴스, 광학, 마이크로 결함, 박막 측정, 유전체 상수 측정 등 다양한 웨이퍼 표면의 다양한 기능을 검사하는 데 사용됩니다. 프로버 (Prober) 는 핸들링 (Handling) 이나 클리닝 (Cleaning) 과 같은 중간 단계 없이 샘플을 직접 측정 할 수있는 고급 시스템을 사용합니다. 프로버 (Prober) 는 6 인치 웨이퍼 용량을 가지며 웨이퍼 (Wafer) 표면의 다른 요소를 분 단위로 빠르고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 고감도 피드백 시스템은 표면 분석에서 높은 정확성을 보장합니다. 이 프로버에는 정교하지만 사용자 친화적 인 그래픽 사용자 인터페이스 (GUI) 도 장착되어 있습니다. 이를 통해 연산자는 다양한 매개변수 (parameter) 를 쉽게 조작하고 측정 결과를 표시할 수 있습니다. 또한 GUI 에는 다양한 기능 (예: 전원 공급 장치 상태, wafer testing status, prober 환경 온도) 을 모니터링할 수 있는 많은 기능이 있습니다. 이 Prober는 고해상도 모니터링 및 피드백 기능 외에도 광학 줌, 온보드 도량형, 전기 테스트, 마이크로 라만 측정 등 다양한 작동 기능을 제공합니다. 광학 확대/축소 (optical zoom) 기능을 사용하면 연산자가 웨이퍼를 확대하여 해당 피쳐의 세부 사항을 극도로 정확하게 검사할 수 있습니다. 온보드 도량형 (On-board metrology) 은 프로버의 내장 시스템을 사용하여 웨이퍼의 다양한 기능에 대한 정확하고 반복 가능한 측정을 수행합니다. 이러한 측정값을 사용하여 해당 업계 표준을 준수할 수 있습니다. TSK MHF 400의 전기 테스트 (electrical test) 기능은 웨이퍼의 저항과 커패시턴스를 테스트하는 고급 솔루션을 제공합니다. 또한 민감한 표면 재료 스캐닝 알고리즘 (surface material scanning algorithm) 이 특징이며, 이를 통해 연산자는 웨이퍼 특성을 실시간으로 관찰 할 수 있습니다. 마이크로 라만 (micro-Raman) 기능을 사용하면 현미경 수준에서 웨이퍼 (wafer) 표면의 물리적 특성을 검사할 수 있습니다. 이는 면적을 검사하기 어려운 분석에 필수적입니다. 정교한 디자인과 고급 기능으로 인해 ACCRETECH MHF400 프로버 (Prober) 는 다양한 까다로운 어플리케이션에 이상적인 선택입니다. 직관적 인 설계 를 통해 경험 이 없는 "오퍼레이터 '들 도" 프로' 의 역량 을 최대한 활용 할 수 있게 되어 "웨이퍼 '의 성질 을 쉽사리 신속 하고 정확 하게 측정 할 수 있게 해 준다.