판매용 중고 ACCRETECH / TSK UF 200S #9270790

ACCRETECH/TSK UF 200S는 나노 스케일 재료의 프로브 구조에 사용되는 원자력 현미경 (AFM) 입니다. TSK UF200S는 큰 샘플 크기를 가진 고해상도, 저소음 AFM으로 반도체, 생물학적, 재료 연구 분야에 적합합니다. AFM은 나노 스케일 (nanoscale) 피쳐의 치수를 높은 정밀도로 측정하도록 설계되었습니다. ACCRETECH UF 200 S에는 고속 ZDrive가 장착되어 있습니다. 이 기능을 사용하면 빠른 샘플 스캔과 향상된 시간 해결이 가능합니다. 또한 ZDrive 는 스캐닝 (scanning) 매개변수를 제어하는 데 사용되므로 사용자가 빠르고 정확하게 측정할 수 있습니다. 또한, ACCRETECH/TSK UF 200 S는 높은 Probe 해상도와 낮은 소음 구조를 가지고 있으며, 이를 통해 사용자는 최대 몇 나노미터 높이와 너비의 기능을 정확하게 측정 할 수 있습니다. UF 200 S의 또 다른 기능은 고품질 이미징 기능입니다. AFM은 캔틸레버 프로브를 사용하며 단일 픽셀 해상도 이미징이 있습니다. 이 시스템은 매우 정밀하게 나노 구조 이미지를 생성 할 수 있습니다. 또한, AFM에는 온도 프로파일을 모니터링하여 재료의 열 특성 (thermal properties) 을 연구하는 데 사용할 수있는 통합 열 챔버 (thermal chamber) 가 있습니다. 또한 UF200S에는 AFM 이미지 운영 및 분석을 위한 다양한 기능을 제공하는 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 제품군이 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 서피스 거칠기 (surface roughness), 단계 높이 (step height), 프로파일 (profile), 선 너비 (line width) 와 같은 지형 피쳐를 쉽게 측정하고 분석할 수 있습니다. 또한, 이 소프트웨어는 푸리에 변환, Z 평균 및 라인 프로파일 피팅과 같은 고급 분석 도구도 제공합니다. 마지막으로 ACCRETECH UF200S는 높은 처리량 애플리케이션에 적합합니다. 이는 스캐닝 (Scanning) 작업 흐름이 자동화되어 다수의 샘플을 신속하게 분석할 수 있기 때문입니다. 또한 AFM 은 데이터를 효율적으로 수집할 수 있는 다양한 하드웨어 구성요소를 갖추고 있어 시간 (time) 과 자원 (resource) 을 절약할 수 있습니다. 전체적으로 TSK UF 200 S는 나노 스케일 기능을 측정하도록 설계된 고급 AFM 시스템입니다. 높은 수준의 정확성과 해상도로 인해 재료, 생물학적, 반도체 분야의 연구 응용 분야에 적합합니다. 또한 자동화된 워크플로우 (workflow) 와 고급 소프트웨어 (advanced software) 를 통해 처리량이 많은 애플리케이션에 적합합니다.