판매용 중고 DNS / DAINIPPON SD-80BW-AVQ #293597087

DNS/DAINIPPON SD-80BW-AVQ는 전자 부품 및 기타 기판의 고속 노출을 위해 설계된 포토 esist 장비입니다. 빔 스캐닝 (Beam Scanning) 방식을 사용하여 정확하고 정확한 노출 기능을 제공하는 자동 시스템입니다. 이 장치에는 MDS (Multi-Decelerator Shutter) 및 RF (Focused Radio-Frequency) 노출과 광역 광 노출 제어 기능이 있습니다. 기계는 펄스 된 제논 아크 램프 (Xenon Arc Lamp) 를 사용하여 샘플을 가장 잘 노출 할 수 있습니다. 이를 통해 다양한 노출 매개변수 (Exposure Parameter) 와 호환되므로 두께와 구조가 다른 여러 재료가 노출될 수 있습니다. 노출 시간은 MDS 셔터를 통해 정확하게 제어 할 수 있습니다. MDS에는 높은 노출 속성이 있어 스캔 당 최대 0.1 초의 노출 시간이 허용됩니다. 이 도구는 WAEC (Wide Area Light Exposure Control) 자산으로 설계되었습니다. WAEC는 3 nm 정도의 낮은 노출 정확도를 제공하여 매우 작은 기판 또는 MEMS (마이크로 전기 기계 시스템) 에 적합합니다. 또한 광역 노출 제어 (Wide-Area Exposure Control) 는 조리개, 셔터 속도 및 노출 시간을 조정하여 다양한 노출 옵션을 제공합니다. 따라서 사용자는 특정 요구에 따라 노출을 최적화할 수 있습니다. 이 모델은 또한 노출 전에 샘플에서 먼지 입자 및 기타 재료를 제거하는 OEC (Opto-electronic Cleaning) 장비를 갖추고 있습니다. OEC 시스템은 금속, 탄소, 기타 오염 물질 등, 노출 과정을 방해 할 수있는 입자를 제거하도록 설계되었습니다. 이것은 더 나은 준수를 보장하고 노출 품질을 극대화합니다. DNS SD-80BW-AVQ (Automated Real-Time Surface Inspection Unit) 는 기판 표면의 자세한 이미지를 제공하는 자동화된 실시간 표면 검사 장치를 갖추고 있습니다. 실시간 표면 검사는 균일 한 노출을 보장하며, 다른 두께와 구조의 기질이 균등하게 노출되도록 합니다. 이 기계는 고르지 않은 노출 픽셀을 수정하는 노출 수정 기능을 제공합니다. 이 툴에는 일련의 소프트웨어 툴과 사용자 인터페이스 (user interface) 가 함께 제공되며, 사용자는 노출 설정, 노출 시간, 노출 제어 등을 관리하고 모니터링할 수 있습니다. 소프트웨어에는 내장 작업 목록, 파형 모니터링 및 제어, 자동 렌즈 제어 등이 포함됩니다. 이러한 소프트웨어 도구를 사용하면 특정 요구 사항에 맞게 구성된 노출 설정을 만들 수 있습니다. DAINIPPON SD-80BW-AVQ 포토레시스트 (photoresist) 자산은 고성능, 신뢰성을 제공하며 다양한 기판 및 노출 요구 사항에 적합합니다. 자동 OEC 및 표면 검사 시스템은 정확하고 균일 한 노출을 보장하는 반면, WAEC 및 노출 교정 기능은 노출 정확도를 향상시킵니다. 사용자 인터페이스 (User Interface) 및 소프트웨어 도구를 사용하면 노출 설정을 쉽게 관리하고 노출 진행 상황을 모니터링할 수 있습니다. 이 모든 기능을 통해 SD-80BW-AVQ는 전자 부품 및 MEMS의 안정적이고 정확한 노출에 이상적인 선택입니다.