판매용 중고 PROBING SOLUTIONS WM42 #140675

PROBING SOLUTIONS WM42 마스크 및 웨이퍼 검사 장비는 IC (Integrated Circuit) 검사를위한 고성능 고속 이미징 및 분석 시스템입니다. 생산 라인을 위해 설계되었으며 FinFET, 3D 및 High Voltage (HV) 와 같은 가장 까다롭고 복잡한 IC에 사용됩니다. 비접촉 광 및 접촉 전기 측정에 대한 강력한 검사 기능을 제공합니다. WC42 장치는 미세한 시야를 갖는 일련의 특별히 설계된 프로브를 사용합니다. 프로브는 고해상도, 높은 줌 렌즈 (zoom lens) 를 가진 이미징 머신에 연결되어 IC 이미지를 캡처합니다. 프로브 (Probe) 를 포함하는 이미징 헤드 (Imaging head) 는 정밀 선형 단계에 장착되어 IC의 모든 영역으로 머리를 정확하게 향하게한다. 프로브는 회로의 최소 변경 된 전기 거동 (electrical behavior) 을 측정하여 IC 회로 내에서 결함을 식별 할 수 있도록 정확하게 교정됩니다. 프로브는 광학 (optical) 과 레이저 (laser) 기술을 결합하여 미세 구조에 대한 완전한 물리적, 전기적 분석을 수행 할 수 있습니다. WM42 의 고급 분석 시스템 (Advanced Analysis Systems) 에는 여러 고급 이미지 처리 알고리즘과 소프트웨어 도구 (Software Tools) 가 포함되어 있어 검사가 얻은 이미지를 자세히 검사하고 분석 할 수 있습니다. 그런 다음, 이 데이터를 사용하여 결함을 식별하고 상세 보고서를 출력할 수 있습니다. PROBING SOLUTIONS WM42 도구는 또한 고급 전력 측정 (Power Measurement) 을 제공하여 IC 회로의 단락 및 개방 회로 결함을 식별할 수 있습니다. 전압 및 전류가 IC 의 논리 셀을 가로질러 떨어지는 것을 식별하는 전력 측정 (Power measurements) 은 전기 회로의 약점을 정확히 파악하는 데 도움이됩니다. 또한 WM42 자산은 고급 열, 진동 및 동작 제어 (motion control) 기능을 제공하여 프로브 헤드를 IC 상의 임의의 지점으로 정확하게 이동할 수 있습니다. 이 모델에는 IC 의 3D 뷰 액세스, 에지 (Edge) 이미지 처리, 다중 채널 분석, 피드 스루 테스트 등 다양한 옵션이 있습니다. PROBING SOLUTIONS WM42 장비는 IC에 유용한 툴로서, 결함을 파악하고 제품 수율을 향상시키는 고급 조사/분석 기능을 제공합니다. 보다 빠르고 정확한 IC 모니터링 및 운영 제어가 가능하므로 고객이 기대하는 제품을 얻을 수 있습니다.