판매용 중고 ADVANTEST T 5581H #193492

ID: 193492
Memory Testers Configuration: CONFIGURATION OF TEST HEAD PIN CONFIGURATION 1.640DR+288I/O 2.960DR+288I/O 3.640DR+576I/O 4.960DR+576I/O [1-4] ............> 4 TH CABLE LENGTH 1.5M 2.8M [1,2] ......................> 1 NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2 CONFIGURATION OF TEST HEAD 1 TEST HEAD TYPE 1.816CH 2.1600CH [1,2] .....................> 2 PE BOARD TYPE 0.NO BOARD 1.BGM-021633 (FULL PE) 2.BGM-021633X02 (I/O PE) 3.BGM-021633X03 (DR PE) SLOT 33 36 39 161 164 167 CHILDA....>1 1 1 1 1 1 CHILDB....>1 1 1 1 1 1 CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1 CHILDE....>1 1 1 1 1 1 CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1 CONFIGURATION OF TEST HEAD 2 TEST HEAD TYPE 1.816CH 2.1600CH [1,2] .....................> 2 PE BOARD TYPE 0.NO BOARD 1.BGM-021633 (FULL PE) 2.BGM-021633X02 (I/O PE) 3.BGM-021633X03 (DR PE) SLOT 33 36 39 161 164 167 CHILDA....>1 1 1 1 1 1 CHILDB....>1 1 1 1 1 1 CHILD C ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD D ....> 1 1 1 1 1 1 CHILDE....>1 1 1 1 1 1 CHILD F ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD G ....> 1 1 1 1 1 1 CHILD H ....> 1 1 1 1 1 1 CONFIGURATION OF DPU 1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES 2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2 10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64 16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............> HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4 TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32 10V PPS SPEC [1,2] (1:0.4A 2:0.8A) ......> 2 10V PPS CONFIGURATION [1-64] .............> 1-64 16V PPS CONFIGURATION [33-64] ............> HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............> 1-4 1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE 1.BGR-010944X01 2.BGR-010944X02 3.BGR-010944X03 4.BGR-010944X04 5.BGK-012718 [0-5] .........> 0 2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE 1.BGR-016793 (DPU I/F) 2.BGR-010944X05 3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1 DMM TYPE 1.TR6861 2.R6871E 3.R6551 4.R6552T [1-4] .........> 4 AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60 CONFIGURATION OF ALPG NUMBER OF ALPG [1,2,4] ..............................> 2 CONFIGURATION OF DBM DBM OPTION EXIST [Y,N] ..............................> NO SIZE OF DBM BOARD ....................................> CONFIGURATION OF FM NUMBER OF FM BOARD [0-4] ............................> 0 PATTERN MEMORY(PM) BOARD EXIST [Y,N] ................> NO CONFIGURATION OF MRA MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> NO CONFIGURATION OF FCDC PIN PATTERN OPTION [Y,N] ...........................> NO PIN DRE OPTION [Y,N] ...........................> NO PIN CPE OPTION [Y,N] ...........................> NO.
장점 T 5581H (ADVANTEST T 5581H) 는 전자장치를 효율적으로 생산할 수 있도록 설계된 높은 처리량, 자동화된 최종 테스트 장비입니다. 시스템은 다양한 자동 테스트 장비 (ATE) 와 완벽하게 호환됩니다. 동시 병렬 테스트 기능, 패키지 요구 사항이 다른 디바이스에 대한 정확도가 높은 테스트 기능을 제공합니다. 장점 T5581H는 고성능 프로세서로 제작되어, 빠르고 안정적인 테스트 결과를 제공합니다. 이 장치에는 최대 5,000 UPH (시간당 단위) 의 처리량이 있으며, 다양한 샘플과 IC를 수용 할 수있는 넓은 테스트 영역이 있습니다. 또한, 이 시스템의 유연한 모듈식 아키텍처 (Flexible, Modular Architecture) 는 다양한 구성에서 다양한 패키징을 가진 다양한 구성요소를 테스트할 수 있도록 합니다. 이 도구에는 테스트 결과의 높은 정확성과 반복성을 보장하는 측정 정밀 컨트롤러 (Measurement Precision Controller) 가 포함되어 있습니다. 또한 데이터 수집, 분석, 보고 및 관리를 위한 광범위한 기능을 제공합니다. 또한, 이 자산에는 표준 고급 도구 (advanced tools) 와 기술 (technologies) 이 포함되어 있어 모델 성능 및 신뢰성에 대한 최신 분석을 사용자에게 제공합니다. T 5581 H 는 다양한 기능과 측정 매개변수를 지원하므로, 단순한 패시브에서 복잡한 프로세서에 이르기까지, 거의 모든 유형의 장치를 정확하게 테스트할 수 있습니다. 또한 유연한 타이밍 제어 (timing control) 및 신호 타이밍 테스트 (signal timing tests) 를 제공하여 지연 시간 및 기타 타이밍 관련 효과를 테스트할 때 정확한 결과를 보장합니다. 또한, 장점 T 5581 H (ADVANTEST T 5581 H) 는 생산 주기의 모든 단계에서 최종 제품을 테스트하고 전체 성능에 대한 자세한 보고서를 제공 할 수 있습니다. 이를 통해 최종 제품의 신뢰성과 일관성을 보장하고 구축 시간을 단축할 수 있습니다. T5581H (T5581H) 는 개발 시간 단축, 신뢰성 향상, 비용 최소화를 통해 자동화된 테스트 결과를 개선하고자 하는 모든 기업에게 탁월한 선택입니다. 모듈식 설계, 높은 처리량, 그리고 정확성은 고객에게 확실한 결과를 제공합니다.
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