판매용 중고 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SFT-3200 #9256600

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SFT-3200은 SEIKO의 강력하고 다용도 X 선 장비입니다. X-ray microanalysis를위한 다양한 고품질 이미징 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 소형 크기, 빠르고 강력한 X-ray 소스, 사용이 간편한 설계로, SEIKO SFT-3200은 다양한 어플리케이션에 적합합니다. SII NANOTECHNOLOGY SFT 3200에는 8.0mmx6.0mm X-ray 소스 챔버와 2 개의 라인 중심 X-ray 타겟으로 구성된 소스 어셈블리가 있습니다. 원본 어셈블리는 Z축 슬립 (slip) 단계에 마운트되어 수평, 수직, 회전 축을 따라 이동할 수 있습니다. 또한 신호 대 잡음 비율을 향상시키기 위해 저소음 증폭기 및 고이득 인듐-옥사이드 및 펠티어 냉각 시스템을 갖추고 있습니다. SFT 3200의 이미징 시스템은 최소한의 소음으로 고품질 이미지를 제공하도록 설계되었습니다. 여기에는 가변 전압 x- 선 생성기, Z- 축 슬립 스테이지, 2 개의 전동 셔터 및 정확한 초점 및 배율에 사용할 수있는 정전기 편향 장치가 포함됩니다. 이미징 머신 (Imaging Machine) 은 광시야각, 높은 동적 범위 (Dynamic Range) 및 다양한 이미징 모드를 갖춘 고해상도 이미징 카메라로, 특정 이미징 요구 사항을 충족하도록 조정할 수 있습니다. SFT-3200에는 고속, 거의 즉각적인 셔터 속도가 장착되어 있어 기존의 X- 선 시스템보다 X-ray 마이크로 분석에 대한 이미지 획득 시간이 상당히 빠릅니다. 또한 소프트웨어 패키지가 완전하게 통합되어 다양한 이미지 처리 매개변수 (Imaging Parameter) 와 분석 기능 (Analysis Function) 을 조정 및 모니터링할 수 있습니다. 또한 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 다양한 크기의 이미징 (imaging) 옵션을 제공합니다. SEIKO SFT 3200은 또한 x-ray 빔에서 왜곡을 제거하고 x-ray 소스 팔레트 거리의 변화를 보상하는 고급 수차 수정 도구를 갖추고 있습니다. 이 자산에는 자동 초점이 내장되어 있어 운영자가 고해상도 (high resolution) 와 이미지 대비를 유지할 수 있습니다. 결론적으로 SII NANOTECHNOLOGY의 SII NANOTECHNOLOGY SFT-3200은 X- 선 미세 분석을위한 고품질 이미징을 제공하는 강력하고 사용자 친화적 인 X- 레이 모델입니다. 컴팩트한 크기, 빠르고 강력한 X-ray 소스, 사용이 간편한 설계로 다양한 어플리케이션에 적합하며, 고급 수차 수정, 자동 초점, 이미징 기능을 통해 정확하고 상세한 X-ray 분석이 가능합니다.