판매용 중고 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO FT110 #293587917

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110은 고급 기술을 사용하여 고정밀 x-ray 이미징을 제공하는 x-ray 장비입니다. 이 x-ray 시스템을 사용하면 대상 객체에 대한 자세한 3차원 이미지를 캡처할 수 있습니다. SEIKO FT110은 디지털 x-ray 소스, 디지털 신호 프로세서 및 이미징 소프트웨어로 구성됩니다. x- 선 소스는 x-ray 튜브 (x-ray tube) 의 두 가지 구성 요소로 구성되며, x- 레이를 방출하고 x- 레이를 타겟으로 지시하는 데 사용되는 공준기를 방출합니다. 신호 프로세서는 X-ray 신호를 처리할 수 있는 디지털 신호로 변환하는 역할을 합니다. 이미징 소프트웨어는 대상 객체의 3 차원 이미지를 재구성하는 데 사용됩니다. 이 X-ray 장치의 주요 장점은 넓은 시야 (field of view), 고해상도 (high resolution), 고해상도 이미지를 실시간으로 캡처할 수 있는 기능입니다. 큰 보기 (field of view) 를 통해 한 번에 더 큰 개체와 복잡한 구조의 이미지를 캡처할 수 있습니다. 고해상도를 통해 사용자는 나노미터 척도까지 세부 사항을 식별할 수 있습니다. 또한 실시간 이미지 처리 (real-time imaging) 기능을 통해 데이터를 보다 빠르게 분석할 수 있으므로 시간 절약형 (time-saving) 기능을 사용할 수 있습니다. 이미징 기능 외에도 SII NANOTECHNOLOGY FT110에는 통합 분석 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 시스템에서 생성된 이미지를 분석할 수 있습니다. 분석 소프트웨어에는 컴포넌트 치수 측정, 구조 간 거리 계산, 결함 또는 결함 식별 등의 기능이 포함됩니다. 또한 FT110 은 구성 기능이 뛰어나며 개별 요구 사항에 맞게 간편하게 조정할 수 있습니다. 하드웨어 및 소프트웨어 구성 요소 모두에 대한 다양한 옵션을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 요구 사항과 예산에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO FT110은 탁월한 정밀도와 고해상도 이미징을 제공하는 고급 X- 레이 자산입니다. 통합 분석 소프트웨어를 사용하면 구성 요소 테스트 (Testing Component), 품질 관리 (Quality Control) 등의 애플리케이션에 적합합니다.