판매용 중고 SIEMENS / BRUKER Aristos MX-CR #9134640

SIEMENS/BRUKER Aristos MX-CR은 재료 과학 및 반도체 공정 모니터링 연구를 위해 설계된 차세대 X 선 장비입니다. 이 시스템은 나노 물질 이미징, 작은 영역 분석, 정확한 샘플 측정 등 고급 기능의 조합을 제공합니다. 3 차원 진동 소스를 특징으로하며, 임계 샘플 회전이 필요하지 않고 3 차원으로 샘플의 균일 한 조명을 가능하게합니다. 이를 통해 최소 이동으로 작은 샘플 크기를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 가변 입사각 (variable angles of incidence) 을 활용하여 다양한 조명 매개변수를 수정하여 원하는 이미지 특성을 달성하거나 특정 재료 특성을 강조표시할 수 있습니다. 이 시스템은 Windows 및 Linux 운영 체제와 호환되는 고성능 SCADA (Supervisory Control and Data Acquisition) 툴로 제어됩니다. 샘플 로드, x-ray 필터링, 샘플 조작, 온보드 데이터 저장 등 다양한 자동 컨트롤을 제공합니다. 이 장치에는 작동 중 안전을 보장하는 Interlock Control 기능도 포함되어 있습니다. 또한, 사용자는 다양한 소프트웨어 도구를 사용하여 획득한 이미지를 올바르게 분석하고 중요한 정보를 추출할 수 있습니다 (영문). 이 자산은 또한 시중에서 사용할 수 있는 가장 향상된 고에너지 엑스레이 (X-Ray) 소스를 사용하여 향상된 이미징 기능을 제공합니다. 이 모델은 렌즈 교환을 활용해 소재 (material) 나 구조의 세부 (details) 를 원자 척도까지 드러내는 선명하고 고해상도 (high-resolution) 이미지를 제작할 수 있다. "필터링 '된 공기 냉각 장치 와 열 보상 장치 를 이용 하여 효율적 이고 정확 한 작동 을 보장 한다. 이 장치에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 가 장착되어 있어 빠르고 쉽게 작동할 수 있습니다. 또한 데이터 수집 실시간 (real-time data acquisition) 기능을 갖춘 대형 터치스크린 디스플레이를 통해 필요한 모든 매개변수를 한 눈에 모니터링할 수 있습니다. BRUKER Aristos MX-CR은 현재 사용 가능한 가장 고급 x- 레이 시스템 중 하나입니다. 즉, 매우 정확하고 정밀하게 소규모의 소재 영역을 감지하고 분석할 수 있는 다양한 기능을 사용자에게 제공합니다 (영문). 이 장비는 재료 과학 및 반도체 프로세스 모니터링 (materials science and semiconductor process monitoring) 분야의 연구원 및 기타 사용자에게 귀중한 도구입니다.