판매용 중고 RIGAKU TXRF V300 #293830100

RIGAKU TXRF V300은 분석 및 산업 계측 개발의 글로벌 리더 인 RIGAKU Corporation이 설계 한 최첨단 x- 레이 장비입니다. 이 특정 시스템 인 RIGAKU TXRFV300은 반도체 산업, 환경 모니터링, 재료 과학 및 연구 실험실을 포함한 다양한 분야의 원소 분석을 위해 설계된 최첨단 총 반사 x- 선 형광 분광계입니다. TXRF-V300 장치의 핵심에는 x-ray 여기 소스가 있으며, 이는 정확하고 정확한 원소 분석을 위해 고강도 X-ray를 생성합니다. 이 기계는 고출력 엑스레이 발전기가 장착 된 총 반사 엑스레이 튜브 (total reflection x-ray tube) 를 사용하여 흥분을 위해 필요한 엑스레이를 생성합니다. 이 x- 레이 소스는 다양한 흥분 에너지 (excitation energy) 를 제공 할 수 있으므로 주기율표 전체에 걸쳐 요소를 매우 민감하고 해상도로 분석 할 수 있습니다. TXRF V-300의 주요 특징 중 하나는 TXRF (total reflection x-ray fluorescence) 기술로, 감도가 높고 샘플 준비가 최소인 샘플의 비 파괴적인 원소 분석을 가능하게합니다. TXRF 분석에서, x- 레이는 얕은 각도로 샘플에 향하여, 샘플 표면에서 총 반사를 일으킨다. 이로 인해 x-ray 형광 신호가 향상되어 원소 정량화의 감지 한계와 정확도가 향상됩니다. TXRF V300 도구에는 실리콘 드리프트 검출기 (SDD) 또는 게르마늄 검출기 (germanium detector) 와 같은 고성능 엑스선 검출기가 장착되어 있어, 샘플에서 방출되는 형광 엑스선을 높은 효율과 속도로 캡처할 수 있습니다. 이 탐지기 (detector) 는 뛰어난 에너지 해상도를 제공하도록 설계되어 밀접하게 간격이 넓은 엑스레이 피크 (x-ray peak) 와 샘플의 요소를 정확하게 식별 할 수 있습니다. TXRFV300 (TXRFV300) 에서 고급 x-ray 들뜬 소스와 검출기의 조합은 광범위한 샘플 유형 및 농도에 대한 안정적이고 정밀한 원소 분석을 보장합니다. 또한 RIGAKU TXRF-V300에는 기기 제어, 데이터 획득 및 데이터 분석을 위해 고급 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 이 자산은 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스를 통해 작동되므로 분석 매개변수 (analytical parameter), 측정 루틴 (measurement routine) 및 데이터 처리를 쉽게 설정할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 피크 디콘볼루션, 배경 빼기, 정량화 알고리즘, 요소 교정 곡선 (elemental calibration curves) 을 포함한 다양한 데이터 처리 도구를 제공하여 샘플의 정확하고 빠른 원소 분석을 용이하게합니다. 또한 RIGAKU TXRF V-300 모델은 수동 또는 자동 샘플 소개, 샘플 스테이지 포지셔닝, 측정 레이아웃 옵션을 통해 샘플 처리 및 분석의 유연성을 제공합니다. 이 장비는 고체, 액체, 분말, 박막, 코팅 등 다양한 샘플 유형을 수용 할 수 있으며, 다양한 응용 분야에서 원소 분석을위한 다재다능한 도구입니다. 결론적으로 RIGAKU TXRF V300은 고급 x-ray 흥분 기술, 총 반사 x-ray 형광 기술, 고성능 검출기 및 사용자 친화적 인 소프트웨어를 결합하여 정확하고 신뢰할 수있는 요소 분석을 제공하는 정교한 x-ray 시스템입니다. 민감하고 파괴적이지 않은 분석 기능을 갖춘 RIGAKU TXRFV300 (RIGAKU TXRFV300) 은 높은 정확성과 효율성으로 샘플의 요소를 특성화하고 수치화하려는 다양한 산업의 연구원, 과학자, 엔지니어에게 필수적인 도구입니다.