판매용 중고 RIGAKU TXRF 3750 #293808357

RIGAKU TXRF 3750은 표면 분석 응용 프로그램을 위해 설계된 강력한 X 선 장비입니다. 첨단 (advanced) 기술은 광범위한 재료의 표면 구조와 형태를 특성화하기에 이상적인 도구입니다. 이 시스템에는 매우 높은 에너지에서 고도의 X 선 (X-ray) 을 제공하는 독특한 X-ray 소스가 장착되어 있습니다. X 선 빔 (X-ray beam) 은 광학 장치에 의해 샘플 표면에 집중되어 있으며, 이는 X 선의 에너지가 관심 영역에 정확하게 침착되도록 도와줍니다. 이 기계의 고유 한 사건 슬롯을 사용하면 TXRF에서 수 밀리미터 (최대 30 cm) 까지 다양한 샘플 크기를 실행할 수 있습니다. 또한, 조절 가능한 진공 챔버 (vacuum chamber) 는 진공 내에서 샘플을 연구하여 표면 산화 및 증가 된 샘플 및 X- 선 효율을 제거한다. 또한, TXRF 3750은 샘플에 의해 방출되는 X- 레이를 감지하는 다양한 검출기를 자랑합니다. 이러한 검출기에는 고체 검출기, 형광 검출기 및 패러데이 컵 검출기가 포함됩니다. 이것은 다양한 감지 기능을 제공하며, 전체 샘플 서피스가 커버되도록 도와줍니다. RIGAKU TXRF 3750은 또한 표면 분석을 쉽게 할 수있는 강력한 소프트웨어 도구 세트를 제공합니다. 여기에는 샘플 준비, 데이터 수집 및 분석과 같은 영역이 포함됩니다. 데이터는 RIGAKU MultiAxes2, 3DCIP 및 RIXS - 보기와 같은 다양한 소프트웨어 도구를 사용하여 처리할 수 있습니다. 전반적으로 TXRF 3750은 표면 분석 응용 프로그램을 위해 특별히 설계된 강력한 X 선 도구입니다. 강력한 X 선 소스, 조절 가능한 진공 챔버, 탐지기 범위 및 표면 분석을 용이하게 하는 다양한 소프트웨어 도구가 특징입니다. 광범위한 재료의 표면 구조 (surface structure) 와 형태 (morphology) 를 특성화하기에 이상적인 도구입니다.