판매용 중고 RIGAKU TG 8120 #9078492

RIGAKU TG 8120 Extreme X- 선 회절계 (XRD) 는 고성능, 고해상도, 고정밀 X- 선 회절 장비입니다. 이 시스템은 재료 과학, 반도체, 촉매 및 의약품을 포함한 다양한 응용 분야를 위해 설계되었습니다. 그것은 집중된 X- 선 빔을 사용하여 결정과 샘플에서 X- 선의 회절을 측정합니다. 그런 다음, 이 정보를 사용하여 재료 연구 및 개발에 중요한 다른 정보 (예: 크기, 변형, 컴포지션, 격자 매개변수) 와 같은 물리적 특성을 측정 할 수 있습니다. TG 8120 XRD 장치에는 X- 선 소스, 샘플 홀더, 샘플 홀더, 검출기 및 샘플 냉각을 포함한 여러 구성 요소가 포함됩니다. X- 선 소스는 회전하는 양극 X- 선 생성기로 최대 X- 선 균질성을 위해 설계되었습니다. 이 도구에는 자동 샘플 체인저 (sample changer) 가 장착되어 있어 샘플 간에 측정이 빠르게 변경됩니다. 샘플 홀더는 전자기 액추에이터 (electromagnetic actuator) 에 의해 구동되며, X- 선 소스에 대한 샘플의 정확한 위치를 허용한다. 자산 (asset) 의 샘플 홀더는 온도 조절 기능을 제공하여 샘플 온도를 조절할 수 있도록 합니다. RIGAKU TG 8120 XRD에 사용 된 검출기 모델에는 X 선 회절 패턴을 검출하기위한 고정밀 고속 CMOS 이미지 검출기가 포함되어 있습니다. 검출기는 고해상도 디지털 오실로스코프와 결합하여 신호 안정성과 정확성이 뛰어납니다. 검출기는 회절 X 선의 진폭과 위상을 모두 측정 할 수 있습니다. 검출기 장비에는 통합 CCD 카메라가 포함되어 있어 X- 선 회절 패턴의 디지털 이미징이 가능합니다. TG 8120 XRD의 샘플 냉각 시스템은 측정 중에 너무 많은 열 노출으로부터 샘플을 보호하는 데 도움이됩니다. 냉각재 루프 (closed coolant loop) 에 냉각재를 순환하여 효율적인 냉각을 제공합니다. 샘플 냉각수 장치는 프로그래밍 가능하며, -20 ° C ~ + 100 ° C의 온도까지 샘플을 식히는 데 사용될 수 있습니다. RIGAKU TG 8120 XRD는 재료 및 나노 구조 재료 분석, 물질 다공성 및 밀도 연구, 결정성 측정, 결정 구조 매개변수 결정, 재료 이미징 및 변형 측정, 위상 식별 및 분석 등 다양한 실험에 사용할 수있는 다재다능한 기계입니다. 이 XRD 도구는 매우 정확하여 2.x- 선 회절에서 0.5 arcseconds의 해상도를 갖는 측정을 허용합니다. 에셋은 또한 최대 15 도의 회전 오정 (rotational misalignment) 을 갖는 샘플을 정확하게 측정 할 수 있습니다.