판매용 중고 RIGAKU R-AXIS IV++ #9184694

ID: 9184694
Image plate detector 2D X-Ray detector system Reader section: Reader device Sample axis (Φ-axis: standard, K-goniometer: option) Camera length adjustment section Optics section: Graphite monochromator optics Mirror-mirror optics Multilayer-film mirror Reader section: White IP size: 300 x 300 mm (2) Blue IP size: 200 x 200 mm Readable pixel size: White IP: 100 μm x 100 μm or 200 μm x 200 μm (2) Blue IP: 50 μm x 50 μm Reading time: 100 seconds when the 100 μm x 100 μm size is used 50 seconds when the 200 μm x 200 μm size is used 180 seconds when the 50 μm x 50 μm size is used Laser light source: Semiconductor laser (maximum rating: 35 mW) Detector: Photomultiplier tube Dynamic range: 1 to 1.04 x 106 ADU Reading sensitivity: (2) counts/X-ray photon Background: Sigma value: 1.0 photon/pixel or smaller Erasure time: 20 seconds Controller section: Data conversion: ADC/20-bit Data transfer: PIO System Control: RS-232C HV: -600 V ϕ-Axis stage section: Goniometer steps: 0.002° Maximum speed: 720°/min Manual rotation: 360° free rotation Height adjustment range: ±15 mm Beam stopper: Automatic escape mechanism incorporated Camera length adjustment range: 70 to 300 mm Camera length indicator: Digital (Minimum digits: 0.1mm) Telescope: Erect image, 40X ( collapsible) Goniometer head used: IUCr 49 mm type (64 rnm type usable) Reader section: Reader main body set Vacuum pump (with a connection tube) Connection cables Reader/Φ axis stage connection cable Reader/controller connection cable Controller section: Controller set Connection cables: Controller/reader connection cable Controller/CPU connection cable Controller/X-ray generator connection cable (2) Enclosure color types: Black and blue.
RIGAKU R-AXIS IV++ 는 비 결정질 및 결정질 재료의 질적 및 정량적 분석을 위해 설계된 최첨단 X- 선 장비입니다. 이 시스템은 광범위한 샘플 아키텍처에서 재료의 원소 (elemental) 및 위상 (phase) 구성을 빠르고 정확하게 결정할 수 있습니다. R-AXIS IV++ + 에는 4kW 전력 용량의 X-ray 튜브와 샘플 위치를 위해 특별히 설계된 2D/3D 샘플 홀더가 장착 된 X-ray 생성기가 포함되어 있습니다. 2D 샘플 홀더는 최대 500mm 직경의 샘플을 운반 할 수있는 반면, 3D 샘플 홀더는 > 500kg 크기의 불규칙한 모양의 샘플을 수용 할 수 있습니다. 이 장치에는 모든 XRD (X-ray diffraction) 각도의 정확한 측정을 위해 X-ray 빔의 샘플을 회전시키기 위해 고속 goniometer 헤드가 장착되어 있습니다. 샘플 홀더는 600mm 길이의 분석기 크리스탈 클리어 디자인 (crystal clear design) 에 연결되며, 샘플 위에 배치할 수 있으며 X- 선 빔과 코플라나로 구성되어 XRD 머신의 최적의 성능을 제공합니다. RIGAKU R-AXIS IV++ 는 고해상도 검출기를 특징으로하며, 17,000 요소 선형 위치 민감성 검출기는 512 x 1024 픽셀 검출기 어레이와 5 축 조작기로 구성된 돋보기를 사용합니다. 이를 통해 10 ~ 10000 카운트/s 수준의 고해상도 2D XRD 데이터를 수집하여 재료 구성 및 구조의 빠르고 정확한 결정을 가능하게 합니다. 이 도구에는 XRD 데이터 (XRD 데이터) 의 실시간 획득 및 표시 및 표준 스펙트럼 라이브러리 (spectrum library) 와의 결과 비교를 위해 컴퓨터 인터페이스가 추가로 장착되어 있습니다. R-AXIS IV++ 는 박막 분석, micro-XRD 분석, 구조 분석 및 화학 분석과 같은 다양한 응용 분야에 사용하기 위해 분말, 펠레티징, 오일 임베디드 및 in-situ 샘플과 같은 광범위한 재료의 분석을 지원합니다. 에셋은 또한 매우 유연하여 샘플 준비, 측정, 제어, 데이터 분석 프로세스를 사용자 정의할 수 있습니다. 전반적으로 RIGAKU R-AXIS IV++ + 는 강력하고 고급 X-ray 모델로, 사용자에게 고급 X-ray 및 재료 분석을 수행 할 수있는 다양한 기능을 제공합니다. 다용도가 높고, 견고하며, 여러 응용 프로그램에서 우수한 결과를 얻을 수 있습니다.
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