판매용 중고 RIGAKU MFM65 #293802352

RIGAKU MFM65는 고급 재료 분석 응용 프로그램에 사용하도록 설계된 고급 x-ray 장비입니다. 강력한 마이크로 포커스 x-ray 소스를 기반으로 매우 높은 해상도를 측정할 수 있습니다. 이 시스템은 요소 매핑, 박막 분석, 작은 입자 분석, 잔류 스트레스 매핑, 위상 식별, X- 선 회절 등을 포함한 연구 및 산업 응용 분야에 사용하도록 설계되었습니다. 마이크로 포커스 x- 레이 소스는 멀티 레이어 화이트 빔 광학 장치와 함께 작동합니다. 이 설계를 통해 스팟 크기가 100 ~ 200 미크론인 하이 플럭스 병렬 빔을 생성할 수 있습니다. 기계의 높은 동적 범위는 베릴륨 (beryllium) 에서 우라늄 (uranium) 까지 원자 번호 범위의 원소를 감지 할 수 있습니다. RIGAKU MFM 65는 또한 양방향으로 1-2 미크론의 매우 높은 위치 해상도를 가지고 있으며, 이는 포스트 프로세스 소프트웨어를 통해 더욱 개선 될 수 있습니다. 이 도구는 또한 업계 최고의 40 cm2 이미지 영역을 갖추고 있으며, 정확도가 향상된 대형 샘플을 완전히 자동화하여 분석할 수 있습니다. 에셋의 클래스 리더 모노크로메이터는 또한 초고해상도 이미징 및 정량적 요소 매핑을 허용합니다. 또한 강력한 스팟 온 (spot-on) 기능을 통해 작은 입자의 빠른 질적 및 정량적 분석을 가능하게합니다. MFM65는 또한 사용자 친화적 인 작동을 위해 설계되었습니다. 이 모델은 사용자에게 친숙한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스), 통합된 X-ray 데이터 획득, 제어, 고급 데이터 조작 및 분석 기능을 제공합니다. 이 장비는 또한 다양한 외부/사후 처리 (external/post-processing) 툴과 호환되므로 데이터를 더욱 심층적으로 파악할 수 있습니다. MFM 65는 다양한 산업 및 연구 응용프로그램을 위해 설계된 강력하고 다양한 x-ray 분석 시스템입니다. 유연한 광학 장치 (optics unit) 와 결합된 고성능 마이크로 포커스 (micro-focus) 소스는 강력하고 안정적인 x- 레이 머신을 찾는 사용자에게 이상적인 선택입니다.