판매용 중고 RIGAKU Geigerflex #293754972

RIGAKU Geigerflex는 고급 Geiger-Müller (GM) 감지 기술을 사용하여 XRF (X-ray 형광) 를 감지하고 측정하는 X 선 장비입니다. 박막 (Thin Film), 시트 스틸 (Sheet Steel) 과 같은 복잡한 샘플에 포함된 미량 요소를 식별하고 측정 할 수있는 이미징 및 분석 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 구리, 알루미늄, 납 및 기타 미량 요소의 미세 입자를 검출 및 이미징 할 수 있으며, 이를 통해 정밀한 원소 구성 분석이 가능합니다. Geigerflex 장치에는 X-ray 소스, 검출기 어레이 (X-ray 카메라 및 검출기), 통합 응용 프로그램 및 사용자 인터페이스 소프트웨어 및 분석 소프트웨어가 포함됩니다. X- 선 소스는 전자 빔 소스와 음전하 입자 가속기를 갖춘 선형 가속기 (linear accelerator) 로 구성됩니다. 전자 빔 소스 (electron beam source) 는 검출기 배열에서 검출되는 짧고 강렬한 X- 선 펄스를 생성하는 데 사용됩니다. 검출기 어레이는 다양한 이미지 강도, CCD 및 기타 카메라, 펄스 카운터 유형 검출기로 구성되며, 이는 X 선 에너지를 전기 신호로 변환합니다. 통합 응용 프로그램 및 사용자 인터페이스 소프트웨어를 사용하면 적절한 설정을 선택하고, X-ray 형광 신호를 감지하고, 측정하고, 이미지를 캡처할 수 있습니다. FlexMAP 및 RIGAKU Grazor와 같은 분석 소프트웨어는 이미지를 높이 및 각도 데이터와 결합하여 원소 구성 분석을 수행합니다. 그런 다음, 이러한 분석 결과를 쉽게 보고 참조 라이브러리와 비교할 수 있습니다. RIGAKU Geigerflex는 다른 XRF 시스템에 비해 몇 가지 뛰어난 이점을 제공합니다. 첫째, 미량 요소에 대한 분석은 매우 정확하고 신뢰할 수 있습니다. 이 기계는 또한 뛰어난 해상도와 더 짧은 스캔 시간 (scan time) 을 제공하는데, 이는 입자 크기 변화를 빠르고 정확하게 감지 할 수있는 고급 검출기 어레이이기 때문입니다. 이빔 소스 (E-beam source) 는 더 낮은 빔 전류로 향상된 선형 범위를 가능하게하여 다른 양의 미량 요소를 더 잘 구별합니다. 마지막으로, Geigerflex에는 XRF 분석을 보다 직관적이고, 효율적이며, 사용자 친화적 인 많은 사용자 친화적 인 기능이 포함되어 있습니다. 통합 애플리케이션 및 사용자 인터페이스 (User Interface) 소프트웨어는 자동 분석, 매개변수 통합, 간편한 액세스 결과를 제공합니다. 또한 데이터 브라우저, GUI (Graphical User Interface), 완전 자동 디바이스 설정 등의 사용자에게 친숙한 기능도 제공합니다. RIGAKU Geigerflex는 추적 요소 분석을위한 강력하고 안정적인 X 선 도구를 제공합니다. 고급 기술, 사용자 친화적 인 기능, 고정밀 기능의 조합으로, 모든 X-ray 형광 분석에 적합합니다.