판매용 중고 RIGAKU FR-E #293811774

RIGAKU FR-E는 결정 물질 분석을 위해 설계된 고성능 X- 선 회절계 장비입니다. 첨단 기술로 첨단 기술 (최첨단 기술) 을 활용한 광범위한 연구/산업 응용프로그램을 위한 정확하고 안정적인 결과를 제공합니다 (영문). 정밀 엔지니어링 및 사용자 친화적 인 인터페이스 (FR-E) 를 통해 FR-E는 연구원들과 과학자들에게 원자 수준의 재료 구조를 특성화하기위한 효율적이고 강력한 도구를 제공합니다. RIGAKU FR-E 시스템의 중심에는 X- 선 (X-ray source) 이 있으며, 이는 물질의 결정질 구조를 통해 침투 할 수있는 X- 선의 고강도 빔을 생성합니다. 이를 통해 단위는 재료 내의 원자 배열에 대한 정보를 표시하는 상세한 회절 패턴 (diffraction pattern) 을 캡처 할 수 있습니다. FR-E의 X- 선 소스 (X-ray source) 는 안정성이 높으며 다양한 파장의 X- 레이 (X-ray) 를 생성하도록 미세하게 튜닝 될 수 있으므로 광범위한 분석 기술에 적합합니다. RIGAKU FR-E의 주요 특징 중 하나는 고정밀 고니 오미터 (goniometer) 로, X- 선 빔에 대한 샘플 방향을 정확하게 제어 할 수 있습니다. 이를 통해 연구자들은 여러 방향과 각도에서 회절 데이터 (diffraction data) 를 수집하여 연구 중인 재료의 결정 구조를 포괄적으로 표현할 수 있습니다. FR-E의 고니 오미터 (goniometer) 는 전동화되고 완전히 자동화되어, 사용자의 개입을 최소화하면서 빠르고 정확한 데이터 수집이 가능합니다. RIGAKU FR-E는 또한 고감도, 공간 해상도로 회절 패턴을 캡처 할 수있는 최첨단 검출기 (state-of-art detector machine) 를 갖추고 있습니다. FR-E의 검출기는 광전자관 (photomultiplier tube) 에 결합 된 섬광 결정으로 구성되며, 이는 X 선 광자를 도구의 소프트웨어로 분석 및 처리 할 수있는 전기 신호로 변환합니다. 이 검출기 (detector) 자산은 뛰어난 정확도로 재료의 결정 구조를 결정하는 데 사용할 수있는 고품질 회절 데이터를 제공합니다. 하드웨어 기능 외에도, RIGAKU FR-E에는 데이터 분석 및 해석을 용이하게하는 고급 소프트웨어 툴이 장착되어 있습니다. 이 모델의 소프트웨어를 통해 연구원들은 회절 데이터를 처리 및 시각화하고, 결정 학적 계산을 수행하고, 알려진 결정 구조를 기반으로 회절 패턴을 시뮬레이션 할 수 있습니다. 소프트웨어 패키지에는 회절 피크 (diffraction peak), 수정 매개변수 (refining crystal parameters) 및 샘플에 존재하는 단계 식별을위한 도구가 포함되어 있으므로 결정학 연구를위한 포괄적 인 솔루션입니다. 전반적으로, FR-E는 정교하고 다목적 인 X- 선 회절계 장비로, 연구원들에게 결정질 재료의 구조를 연구하기위한 강력한 도구를 제공합니다. 고성능 X-ray 소스, 정밀 goniometer, 민감한 검출기 시스템 및 고급 소프트웨어 기능을 갖춘 RIGAKU FR-E는 재료 과학, 화학, 물리 및 기타 분야의 광범위한 애플리케이션에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 데이터를 제공합니다. 연구원과 과학자들은 FR-E (FR-E) 에 의존하여 기본 연구 및 기술 혁신의 혁신으로 이어질 수있는 정확한 구조 정보를 제공 할 수 있습니다.