판매용 중고 RIGAKU 3640 XRF #157114
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판매
ID: 157114
웨이퍼 크기: 6"-8"
빈티지: 2003
Wafer / Disk analyzer, 6"-8"
5 Standard elements for measuring:
Ti, TiW(90/10), Au, TiW/Au (layer 1 TiW & layer 2 Au), Ti/Au(layer 1 Ti & layer 2 Au)
Each correlation parts with (3) different thickness for measurement check
Applied to semiconductor / drive IC front end process of bumping
Configuration:
Main body: Measuring stage with vacuum function by X-ray
Main column and chamber
Single chamber only
Manual wafer transfer robot unit
Display unit:
Monitor shows statistic character on monitor
Power transformer BOC EDWARDS IL70 dry pump
Chiller: Yes
Utilities:
CDA
N2
PCW
Main M/C
Holders, 6"-8"
X-Ray tube
Ti Goniometer
Scanning goniometer
Heat exchanger
High voltage transformer
Automatic voltage regulation
Manual L/UL
Control and vision system:
Control system: PC Based with RS232 port
Operation man-machine interface: Color touch panel, 18"
Data collection: yes
Facility and environment:
Operation temperature: 15-25°C
Relative humility: ≤75%
N-2 for dry pump:
Flow rate: 10 mL/min
Pressure: 0.3~0.7 MPa (3~7kg/cm-2)
Cooling water for heat exchange:
Temperature: ≤ 30 °C
Pressure: 0.2~0.4 MPa (2~4kg/cm2)
Quality: City water
Cooling water for dry pump:
Flow rate: 3.5 L/min
Temperature: ≤30°C
Pressure: 0.2~0.4 MPa (2~4kg/cm2)
Quality: City water
(2) Operation manuals
Installation instruction
System module introduction
Operation instructions
Safety instructions
(2) Repair and maintenance manuals
PM Instructions
Trouble shooting instructions
Circuit diagram
208 VAC, 60 Hz, 3 Phase, 80A
Currently warehoused
2003 vintage.
RIGAKU 3640 XRF는 토양, 광석 및 부품과 같은 재료의 미량 요소 조성을 측정하도록 설계된 에너지 분산 x- 선 형광 장비입니다. 이 X-ray 시스템은 3D 스캔, 고속 데이터 획득, 다중 채널 분석기 (Multi-Channel Analyzer) 와 같은 고급 기술을 결합하여 높은 정확도를 제공합니다. 3640 XRF의 중심에는 단파 x- 레이를 생성하는 x- 선 여기 소스가 있습니다. 그런 다음 공준기는 샘플 재료에서 이러한 x- 레이를 지시합니다. x- 레이가 물질과 상호 작용하면, 그들은 물질의 전자를 흥분시키고 형광 x- 레이를 방출하게한다. 이들 형광 x- 레이는 검출기에 의해 수집되고 다중 채널 분석기에 의해 분석된다. 다중 채널 분석기는 샘플 재료에서 방출 된 x- 레이의 강도, 에너지 및 스펙트럼을 기록합니다. RIGAKU 3640 XRF 장치는 물질에서 다른 요소의 조성을 거의 실시간으로 측정 할 수 있습니다. 따라서 프로세스 제어, 품질 보증, 환경 모니터링 등 다양한 애플리케이션에 유용합니다. 기계는 또한 3D 스캔을 수행하며, 이를 통해 샘플의 여러 깊이와 위치에서 추적 요소를 측정할 수 있습니다. 이 도구는 정확한 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 최저의 에너지 요소도 감지할 수 있는 고해상도 다중 채널 분석기 (Multi-Channel Analyzer) 를 사용합니다. 또한, 자산의 사용자 친화적 인 소프트웨어를 사용하면 데이터를 빠르고 쉽게 익스포트하여 분석할 수 있습니다. 3640 XRF 모델은 연구, 교육 및 산업 환경에서 다양한 응용 분야에 적합합니다. 첨단 기술, 정확성, 휴대성, 빠른 설치 시간을 통해 모든 유형의 프로젝트에 이상적인 선택이 됩니다.
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