판매용 중고 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 5600 #9200534

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 5600은 x-ray 분석 도구입니다. 고성능 검출기 유닛과 결합 된 MRX (Multi-Reflection X-ray Monochromator) 로 구성된 상호 의존적인 장비입니다. 이 시스템은 광범위한 얕은 수준의 2 차 전자 및 XES/XPS (x-ray emission spectroscopy) 분석을 수행 할 수 있습니다. PHI 5600 장치의 주요 구성 요소에는 소스, 챔버, 분석기 및 검출기의 계측 설정이 포함됩니다. 소스는 특정 에너지 라인 필터 선택을 통해 조절 된 에너지가있는 절연 된 단색 x- 레이 빔을 생성하는 다중 반사 (multi-reflection) x- 선 모노크로메이터입니다. 그 광선 들 은 진공실 내부 로 향하는데, 그 곳 에서 "샘플 '을 장착 하여 분석 한다. 샘플의 표면은 단색 x- 레이 빔 (monochromatic x-ray beam) 에 의해 폭격되어 샘플 표면에서 스퍼터링 물질을 유발하고 2 차 전자의 방출을 유발합니다. 기계의 분석기는 운동 에너지를 기반으로 x-ray 및 2 차 전자를 분리하는 데 사용됩니다. 검출기 장치는 x- 레이와 2 차 전자가 Faraday 컵을 통과 할 때 생성 된 신호를 기록합니다. 그런 다음 신호를 컴퓨터 도구로 옮겨 분석합니다. PHYSICAL ELECTRONICS 5600 자산은 요소 감도, 흥분 상태, 에너지 해상도, 강도, 깊이 프로파일 등 다양한 정보를 제공합니다. 또한 표면 화학 매핑, 피크 수명 측정, 오거 특성 (Auger characterization) 및 결합 에너지의 정량화를 수행 할 수 있습니다. 이 모델은 재료 분석, 나노 미터 스케일 표면 특성, 박막 분석, 부식/오염 모니터링 등 다양한 과학 응용 분야에서 유용합니다. 5600 장비의 이점은 높은 신호 대 잡음 비율, 낮은 표면 감도, 높은 수준의 샘플 커버리지를 포함합니다. 또한, 이 도구를 사용하면 분석 결과를 손상시키지 않고 빠르고 간편한 소스 정렬 (source alignment) 과 샘플의 이동이 가능합니다. 이 시스템은 사용하기 쉽도록 설계되었으며, 이를 통해 사용자는 빠르고 효율적으로 실험을 수행할 수 있습니다.