판매용 중고 PHILIPS / PANALYTICAL PW 2830 #9209447

PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830은 산업 응용 분야에서 결함과 결함을 감지하기 위해 널리 사용되는 x-ray 시스템입니다. 이 장치는 매우 높은 해상도를 제공하며, 가장 작은 결함까지 감지할 수 있습니다. 광범위한 응용 프로그램이 있으며, 결함 감지 (flaw detection) 및 비금속 재료 분석에 사용될 수 있습니다. PHILIPS PW 2830은 소스 유닛, 검출기 유닛 및 제어 장치로 구성됩니다. 소스 장치에는 x-ray 소스 및 튜브, 진공 펌프, 전원 공급 장치, 냉각 팬 및 장치 작동을 제어하는 PCB가 포함되어 있습니다. 이 단위는 또한 엑스선 펄스의 에너지 (energy) 와 지속 시간을 조절하여 최적의 결과를 얻을 수 있습니다. 검출기 장치는 소스 유닛에서 생성한 X- 레이를 검출하는 데 사용됩니다. x- 레이를 가시광선으로 변환하는 섬광 (scintillation) 화면과 이 광원을 캡처하는 CCD 카메라로 구성됩니다. 검출기 (Detector) 장치는 케이블 (Control System) 을 통해 제어 시스템에 연결되어 제어 명령과 데이터를 전송할 수 있습니다. 제어 장치 (Control Unit) 는 소스 및 검출기 장치를 제어하고, 검출된 X-ray 신호를 디지털 이미지로 변환하는 역할을 합니다. PANALYTICAL PW 2830 (PANALYTICAL PW 2830) 은 25 ½ m 이상의 매우 높은 해상도를 제공하여 가장 작은 결함과 결함까지 감지 할 수 있습니다. 0.8mm ~ 150mm 크기의 기능을 가진 샘플을 검사 할 수 있습니다. 이 장치는 최대 3 개의 샘플을 동시에 분석하는 데 사용할 수 있으며, 빠르고, 소음이 적은 작업을 위해 설계되었습니다. 또한 Wavelet 변환 (Wavelet Transform) 및 이미지 개선 필터 (Image Enhancement Filter) 와 같은 고급 신호 처리 기술이 적용되어 가장 작은 결함도 감지 할 수 있습니다. 또한, PW 2830은 직관적 인 소프트웨어 인터페이스로 설계되어 작업을 간단하게 수행하고, 사용자가 노출 시간, 필름 처리 설정, 이미지 향상 필터 등의 매개변수를 빠르고 쉽게 조정할 수 있도록 합니다. PHILIPS/PANALYTICAL PW 2830은 업계에서 광범위한 어플리케이션을 갖춘 안정적이고 다양한 x-ray 시스템입니다. 고해상도 (high resolution) 와 빠른 작동 덕분에 금속성 (non-metallic) 재료와 비금속성 (non-metallic) 재료의 결함과 결함을 감지하는 이상적인 도구입니다.