판매용 중고 PHILIPS / PANALYTICAL PW-2830 #293812600

PHILIPS/PANALYTICAL PW-2830은 재료 과학, 제약, 지질학, 환경 연구 및 생화학과 같은 다양한 분야의 분석 및 연구 응용을 위해 설계된 고급 X- 선 장비입니다. 이 X- 선 시스템은 미세한 수준에서 재료의 구성, 구조, 특성을 분석하는 데 필수적인 도구입니다. 필립스 PW-2830 (PHILIPS PW-2830) 은 광범위한 재료를 침투하여 원소 구성 및 결정 구조에 대한 자세한 정보를 제공 할 수있는 강력한 X-ray 소스를 제공합니다. 이 장치에는 X- 레이가 샘플과 상호 작용할 때 생성 된 회절 패턴을 캡처하는 고해상도 검출기 (high-resolution detector) 가 장착되어 결정학 데이터의 정확한 결정을 가능하게합니다. PANALYTICAL PW-2830 (PANALYTICAL PW-2830) 의 주요 구성 요소 중 하나는 측정 과정에서 정확한 샘플 포지셔닝 및 조작을 가능하게하는 정교한 기구 인 goniometer입니다. goniometer는 자동 스캔 및 데이터 수집을 허용하여 기계를 효율적이고 사용자 친화적으로 만듭니다. 또한 이 툴에는 데이터 분석, 해석, 시각화 (visualization) 를 용이하게 하는 특수 소프트웨어가 포함되어 있습니다. PW-2830은 X- 선 회절 (XRD), X- 선 형광 (XRF) 및 총 반사 X- 선 형광 (TXRF) 을 포함한 광범위한 분석 기술을 제공합니다. XRD는 재료의 결정 구조를 결정하는 데 사용되며, XRF는 원소 분석에 사용됩니다. TXRF (TXRF) 는 농도가 낮은 샘플에서 미량 요소 분석에 적합한 매우 민감한 기술입니다. 에셋은 분말, 박막, 액체, 고체 등 다양한 샘플 유형을 지원합니다. 각 애플리케이션의 특정 요구 사항을 충족하기 위해 다양한 샘플 홀더 (sample holder) 및 액세서리 (accessory) 를 사용할 수 있습니다. PHILIPS/PANALYTICAL PW-2830은 마이크로 그램 (microgram) 에서 밀리그램 (milligram) 까지 다양한 샘플 크기를 분석 할 수 있으므로 다양한 연구 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 필립스 PW-2830 (PHILIPS PW-2830) 은 높은 감도, 정확도 및 신뢰성으로 유명하며, 고급 물질 특성 연구를 수행하는 연구자와 과학자들에게 선호되는 선택입니다. 이 모델은 새로운 재료 및 공정의 개발을 돕기 위해 재료의 화학적 구성, 위상 식별 (phase identification), 구조적 특성 (structural properties) 에 대한 귀중한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 요약하자면, PANALYTICAL PW-2830은 다양한 연구 애플리케이션을 위한 고급 분석 기능을 제공하는 최첨단 X-ray 장비입니다. PW-2830 은 고성능 구성 요소, 직관적인 소프트웨어 인터페이스, 유연한 샘플 처리 (sample handling) 기능을 통해, 미세한 수준에서 재료의 특성과 행동을 탐구하려는 과학자와 연구자들에게 필수적인 도구입니다.