판매용 중고 PANALYTICAL XPert Pro #9288506

ID: 9288506
빈티지: 2003
X-Ray Diffractometer (XRD) Incident beam: Prefix hybrid monochromator Diffracted beam: Triple Axis / Rocking Curve (TA/RC) attachment 2003 vintage.
PANALYTICAL XPert Pro는 원소 분석 및 마이크로 화학 이미징을 위해 설계된 강력한 x-ray 시스템입니다. 전용 소프트웨어 및 하드웨어와 함께 고급 XRF (X-ray Fluorescence) 기술을 사용합니다. PANALYTICAL X 'PERT PRO는 X- 선 소스, 샘플 홀더 및 검출기의 세 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. X- 선 소스는 다중 계층 유형의 x- 레이 튜브 (x-ray tube) 로, 분석 할 샘플을 목표로하는 다양한 에너지의 x- 레이를 생성하는 데 사용됩니다. 샘플 홀더는 x- 선 소스 및 검출기에 대해 샘플을 정렬하고 정확하게 배치하도록 설계되었으며, 검출기는 샘플을 통과 한 후 방출되는 x- 레이의 에너지를 감지하고 측정하는 에너지 분산 시리 (Si-Li) 센서입니다. 이러한 모든 구성 요소는 임베디드 Linux 운영 체제에 의해 제어됩니다. 또한 내장형 소프트웨어가 포함되어 있어 X- ray 데이터를 분석하고 이해하기 쉬운 그래픽 형식으로 보고하여 사용자의 데이터 사용자 정의 (user customization) 를 수행할 수 있습니다. X-PERT PRO에는 질적 및 정량적 원소 분석, 미량 요소 분석, 경량 요소 분석, 유기, 유기 무기 및 무기 화합물 감지 및 식별 기능 등 여러 분석 기술이 포함되어 있습니다. 또한 "알파 '입자 와" 베타' 입자 를 구별 할 수 있어서, 표본 에서 중금속 의 행동 을 연구 할 수 있다. X 'PERT PRO는 다양한 대비 옵션을 사용하여 고해상도 이미지와 원소 맵을 생성 할 수 있습니다. 또한 표면 프로파일 링, 박막 분석, 작은 입자 및 나노 입자 이미징 (Imaging of small particle and nanoparticle) 등 다양한 응용 분야에 사용할 수 있습니다. 전반적으로, XPert Pro는 강력한, 다용도, 사용하기 쉬운 x- 레이 시스템으로, 정확한 원소 분석, 마이크로 화학 이미징 및 표면 프로파일링을 제공 할 수 있습니다. 이 솔루션은 다양한 업계의 다양한 어플리케이션을 위한 탁월한 선택으로, 정확한 데이터 (Data) 를 바탕으로 정보화된 의사 결정을 내릴 수 있습니다.
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