판매용 중고 PANALYTICAL XPert Pro #9270957
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판매
ID: 9270957
빈티지: 2001
X-Ray Diffractometer (XRD)
Parallel plate collimator for XRR
Heat exchanger
Shutter
Beam installed:
4-Crystal Ge 220 sym Monochromator with crossed slits collimator
4-Crystal Ge 440 Monochromator
Automatic beam attenuator
Detector:
Rocking curve with proptional detector and optional slits
Tripel axis detector
Automatic switching
Fixed slits
Manual beam attenuators
2001 vintage.
PANALYTICAL XPert Pro는 속도와 유연성을 결합하여 전례없는 성능을 제공하는 XRD (Advanced X-ray diffractometer) 입니다. 다양한 샘플 (sample) 유형에 걸쳐 연구 및 산업 응용 프로그램을 모두 다룰 수 있습니다. 이 시스템에는 SamplePrep, Fast Scanning Modes 및 High-Resolution NewFrontier Optics의 3 가지 주요 기술과 정확성이 탑재되어 있습니다. SamplePrep은 'teach and repeat' 샘플 레이킹과 같은 자동 기능으로 빠르고 정확한 샘플 준비를 허용합니다. 따라서 효율적이고 신뢰할 수 있는 샘플 처리가 가능하므로 사용자 의존 오류를 최소화할 수 있습니다. 또한 EasyPC 및 XPert SCA 소프트웨어는 간단하고 빠른 측정 설정을 보장합니다. 빠른 스캔 모드 (Fast Scanning Modes) 를 사용할 수 있으며, 검색당 최대 20000 포인트와 함께 초당 최대 4000 개의 데이터 포인트를 검색할 수 있습니다. 이 기능은 짧은 시간 안에 고해상도 스펙트럼을 달성하는 데 도움이됩니다. 유연한 포지셔닝은 기존 및 비 기존 샘플 포지셔너의 측정을 통해 최적의 결과를 얻을 수 있습니다. 고해상도 NewFrontier Optics는 텍스처와 스트레인을 동시에 최적화합니다. 이는 동시 전체 패턴 적용 범위 (full pattern coverage) 에 의해 향상되어 데이터 수집 속도가 빨라져 대량 정보와 미세 구조 특성화가 결정됩니다. 또한, 독점적 진공을 갖춘 고해상도 광학은 장기 고품질 XRD 패턴과 낮은 기기 드리프트를 보장합니다. PANALYTICAL X 'PERT PRO XRD 시스템은 직관적이고 사용하기 쉽고, 다양한 어플리케이션에 신뢰할 수 있는 고품질 데이터를 제공합니다. 자동화된 고속 스캐닝 (fast scanning) 기능을 고해상도 (optic) 와 결합하여 탁월한 생산성과 정확성을 제공합니다. 리서치 (Research) 와 산업 환경 (Industrial Environment) 모두에 이상적인 선택으로 탁월한 성능과 효율성을 제공합니다.
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