판매용 중고 PANALYTICAL PW 1480 #293631546

PANALYTICAL PW 1480은 재료 과학 연구원을 돕기 위해 설계된 X- 선 장비입니다. 재료의 미세 구조적, 형태 학적 특성을 특성화하는 데 사용되는 다목적, 고성능 시스템입니다. 이 장치는 단색 CuK2- 선 소스와 2 개의 운동 축을 가진 고니 오미터 (goniometer) 를 통합 한 X- 선 회절 방법을 기반으로합니다. 이 기계에는 회절 데이터를 캡처하는 고해상도 CCD 카메라가 포함되어 있습니다. 이 도구는 금속, 합금, 플라스틱, 도자기, 반도체 및 기타 재료를 포함한 다양한 물질에 대한 분석을 수행 할 수 있습니다. 연구자들은 결정 학적 위상 조성을 질적으로, 정량적으로 결정할 수 있으며, 곡물 크기, 질감과 같은 다른 미세 구조 특성을 측정 할 수 있습니다. 또한 자산의 분석 기능은 Lytle 유형 Bragg-Brentano (BB) 형상과 같은 여러 특수 목적 결정을 사용하여 확장 할 수 있습니다. 이를 통해 마이크로 트레인, 변형 그라디언트, 포인트 결함, 불순물 등 다양한 효과를 다양한 재료에서 연구 할 수 있습니다. 이 모델은 다양한 예제 준비 기법 (set of sample preparation technique) 을 지원하며, 사용자의 요구에 맞게 검출기 (selection) 와 포트 (port) 를 사용자 정의할 수 있습니다. 증발 탐지기 (evaporative detector) 는 미량의 성분을 측정하는 데 사용될 수있는 반면, 약 백만 요소를 탐지하는 데 사용할 수있는 고체 탐지기 (solid-state detector) 가 특징입니다. 이 장비에는 실험에서 수집된 데이터를 분석, 해석할 수 있는 소프트웨어 (Software Suite) 도 포함되어 있습니다. 여기에는 다양한 분석 알고리즘 (analysis algorithm) 과 연구원들이 결과를 볼 수있는 시각화 도구 (visualization tools) 가 포함됩니다. 전반적으로, PW 1480은 고급적이고 다재다능한 X- 레이 시스템으로, 연구자들은 샘플을 미세 구조 수준까지 특성화할 수 있습니다. 다양한 재료를 분석하고 다양한 특성을 측정 할 수 있습니다 (영문). 또한, 독점 소프트웨어 및 특수 목적 결정을 통해 사용자는 미세 트레인, 변형 그라디언트, 포인트 결함 및 불순물과 같은 영역으로 연구를 확장 할 수 있습니다.