판매용 중고 PANALYTICAL Epsilon 5 #9384266
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ID: 9384266
빈티지: 2010
X-Ray Diffractometer (XRD)
High precision micro analysis
Large synchrotron radiation
EDWARDS Pump
CANON Printer
PW 5000/00 Body
DELL Optiplex 780 CPU
DELL E190Sb Monitor (TFT 17")
Operating system: Windows XP
Power supply: 200 V, Single phase
2010 vintage.
PANALYTICAL Epsilon 5는 연구, 산업 및 교육 시장을 위해 설계된 최첨단 X 선 회절 장비입니다. 결정학 (crystallography) 과 같은 재료 과학 응용 분야에 널리 사용되며, 위상 식별 (phase identification) 또는 물질의 정량적 위상 분석 (quantitative phase analysis) 과 같은 많은 응용 분야에 적합합니다. 시스템에는 고급 X-ray 튜브, PANALYTICAL PIXcel 검출기 및 DiffractOS 소프트웨어가 장착되어 있습니다. X- 선 튜브 (X-ray tube) 는 0.1에서 100kW의 조절 가능한 강도 범위를 허용하여 다양한 X- 선 회절 측정에 적합합니다. PIXcel 검출기는 회절 각도를 따라 X 선 광자의 각도 위치를 등록 할 수있는 고급, 고해상도 위치 민감도 검출기입니다. DiffractOS 소프트웨어는 컴퓨터의 제어 단위이며, 사용자가 공구 매개변수를 정확하게 제어할 수 있도록 합니다. 엡실론 5는 샘플링 에셋 (Sampling Asset) 을 사용하여 광범위한 X- 선 측정을 가능하게하며, 직경이 최대 10mm 인 샘플을위한 슬릿 샘플 홀더가 장착되어 있습니다. 또한, 파우더 회절, 흔들림 곡선 측정 및 프로파일 측정에 사용할 수 있습니다. 이 모델에는 교환 가능한 시그네이터 (Colimator) 장비가 장착되어 있어 작은 샘플에 대한 작은 발산과 높은 플럭스 (Flux) 가 가능합니다. PANALYTICAL Epsilon 5는 연구 및 산업 응용 프로그램 모두에 고품질 데이터를 제공 할 수 있으며, 상 식별, 질적 구성 연구 및 X- 선 결정학 (X-ray Crystallography) 을 포함한 많은 응용 프로그램에 적합합니다. 이 시스템은 결정질 및 비정질 물질을 특성화하는 능력을 가지고 있으며, 수소 결합, 산화 상태, 불순물을 특성화하는 기능을 갖는다. 이 장치는 또한 하이엔드 데이터 수집 (Data Collection) 및 분석 (Analysis) 기능을 갖추고 있어 고급 측정 및 분석에 이상적입니다. 신속한 데이터 수집, 직관적인 데이터 분석 및 고급 3D 시각화 기능을 제공합니다. 또한 사용자는 전체 패턴 다듬기 (Whole Pattern Refinement) 및 레베일 다듬기 (Lebail Refinement) 와 같은 고급 분석 도구를 사용할 수 있습니다. 전반적으로 Epsilon 5는 광범위한 응용 분야를 갖춘 고급 X- 선 회절계입니다. 연구와 산업 환경 모두에서 고품질 X- 선 (X-ray) 측정을 위해 필요한 모든 구성 요소와 기능을 갖추고 있습니다. 사용자 친화적이며, 고급 데이터 획득/분석 기능을 통해 다양한 애플리케이션에 적합합니다.
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