판매용 중고 PANALYTICAL C-Tech #293746777

PANALYTICAL C-Tech는 재료 분석 및 특성화를위한 고급 기능을 제공하는 최첨단 X 선 장비입니다. 이 시스템은 고성능 XRD (X-ray diffraction) 및 XRF (X-ray fluorescence) 측정을 제공하도록 설계되어 제약, 재료 과학, 지질학 및 환경 분석과 같은 다양한 산업에서 광범위한 응용 프로그램을위한 다용도 도구입니다. 이 장치는 혁신적인 기능과 기능을 갖추고 있으며, 결정질 (crystalline) 과 비정질 (amorphous) 물질을 정확하고 정확하게 분석 할 수 있습니다. C-Tech 기계의 X-ray 회절 기능을 통해 재료의 결정 구조를 검사 할 수 있습니다. XRD (XRD) 는 다양한 재료의 구성, 위상 순도, 결정 학적 방향, 결정석 크기에 대한 귀중한 정보를 공개 할 수있는 강력한 기술입니다. 고해상도 검출기와 고급 데이터 처리 (advanced data processing) 알고리즘을 사용하면 복잡한 샘플에서도 빠르고 정확한 XRD 측정을 수행할 수 있습니다. PANALYTICAL C-Tech 자산의 XRD 모듈은 파우더와 박막 (thin film) 을 모두 분석 할 수 있으므로 광범위한 재료 분석 응용 프로그램에 적합합니다. C-Tech 모델은 XRD 외에도 재료의 원소 분석을위한 X-ray 형광 기능도 갖추고 있습니다. XRF는 샘플의 원소 조성에 대한 정량적 정보를 제공 할 수있는 비 파괴 기술입니다. 장비의 XRF 모듈에는 고감도 (High Sensition) 와 정밀도 (Precision) 를 가진 광범위한 요소를 분석할 수 있는 고해상도 검출기 (High-Resolution Detector) 와 여분의 소스가 장착되어 있습니다. 이를 통해 샘플에 존재하는 요소를 식별하고 정량화하여 원소 매핑 (elemental mapping) 및 구성 분석을 용이하게합니다. PANALYTICAL C-Tech (PANALYTICAL C-Tech) 시스템은 사용자 친화적이고 쉽게 작동할 수 있도록 설계되었으며, 직관적인 소프트웨어를 통해 장치 및 데이터 분석을 완벽하게 제어할 수 있습니다. 이 기계는 높은 처리량 (throughput measurement) 을 측정할 수 있는 다양한 자동화 기능을 갖추고 있어 연구· 산업 분야에 모두 적합하다. 이 도구는 특정 분석 요구사항에 맞게 다양한 액세서리 (accessory) 와 구성으로 사용자 정의할 수 있으며, 이를 통해 실험용 설계의 유연성과 다양성을 확보할 수 있습니다. 이 자산에는 피크 식별 (Peak Identification), 위상 정량화 (Phase Quantification) 및 수정 구조 개선을위한 정교한 알고리즘을 포함한 고급 데이터 처리 및 분석 도구가 있습니다. 이 도구를 통해 연구원은 XRD 및 XRF 데이터에서 귀중한 정보를 추출하여 재료의 속성과 동작에 대한 더 깊은 통찰력을 얻을 수 있습니다. 이 모델은 또한 고급 데이터 시각화 (Advanced Data Visualization) 및 보고 (Reporting) 옵션을 지원하므로 결과를 쉽게 해석하고 전달할 수 있습니다. 전반적으로, C-Tech X-ray 장비는 재료 분석 및 특성화를위한 탁월한 기능을 제공하는 최첨단 분석 도구입니다. 첨단 XRD 및 XRF 기능, 사용자 친화적 인터페이스, 종합적인 데이터 분석 툴 (data analysis tools) 을 갖춘 이 시스템은 다양한 분야에서 일하는 연구원 및 과학자들에게 귀중한 자산입니다.