판매용 중고 MALVERN / PANALYTICAL Expert Pro #293828046

MALVERN/PANALYTICAL Expert Pro는 다양한 연구, 산업 및 학술 환경에서 고성능 재료 분석을 위해 설계된 고급 X 선 장비입니다. 이 최첨단 기기는 정밀 X- 선 회절 (XRD) 및 X- 선 형광 (XRF) 기술을 결합하여 결정질 및 비정질 물질에 대한 종합적인 분석과 뛰어난 정확성과 민감도를 제공합니다. MALVERN Expert Pro의 주요 특징 중 하나는 혁신적인 하드웨어 설계로, 고출력 X-ray 소스, 고해상도 검출기, 고급 옵틱을 통합하여 빠르고 정밀한 데이터 수집을 지원합니다. 이 시스템에는 유연한 샘플 포지셔닝 (Sample Positioning) 과 정렬 (Alignment) 을 지원하는 다용도 Goniometer가 장착되어 있어 다양한 샘플 유형과 크기에 대한 최적의 측정 조건을 보장합니다. PANALYTICAL Expert Pro의 X-ray 소스는 고도의 공준으로 강렬하고 단색 X-ray 빔을 생성 할 수 있으며, 샘플 및 정확한 데이터 획득의 효율적인 흥분을 가능하게합니다. 이 장치는 기존의 Cu-Khi 및 Co-K2X- 선 소스를 모두 지원하며, 공간 해상도 또는 민감도가 향상된 특수 응용 프로그램을위한 마이크로 포커스 또는 싱크로트론 소스 (옵션) 를 지원합니다. Expert Pro의 검출기는 뛰어난 에너지 해상도 및 동적 범위를 제공하는 정교한 솔리드 스테이트 센서 (solid-state sensor) 로, 기계가 최소 배경 노이즈와 높은 신호 대 노이즈 비율로 상세한 회절 및 형광 패턴을 캡처 할 수 있습니다. 이 검출기는 실시간 데이터 분석 및 시각화 (visualization) 를 가능하게 하는 고급 신호 처리 알고리즘과 결합되어 있어 샘플 작성, 구조, 속성을 신속하게 평가할 수 있습니다. MALVERN/PANALYTICAL Expert Pro는 기기 작동, 데이터 획득 및 분석을위한 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공하는 직관적인 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 소프트웨어는 피크 식별, 위상 분석, 정량적 위상 결정, 결정석 크기 및 변형 분석, 결정 구조 개선 등 다양한 데이터 처리 도구를 제공합니다. 사용자는 종합적인 보고서를 생성하고 데이터를 다양한 형식으로 익스포트하여 분석/해석을 강화할 수 있습니다. MALVERN Expert Pro는 전통적인 XRD 및 XRF 기술 외에도 쌍 분배 기능 (PDF) 분석, 총 산란, 소각 X- 선 산란 (SAXS) 및 방목 발병 X- 선 회절 (GI-XRD) 필름, 특성화를위한 고급 측정 모드를 지원합니다. 이 도구는 또한 환경 챔버, 온도 컨트롤러, 자동화 모듈 (automation module) 과 같은 추가 액세서리를 장착하여 제어 조건에서 in situ 및 operando 실험을 가능하게합니다. 전반적으로 PANALYTICAL Expert Pro는 화학, 물리학, 지질학, 재료 과학, 제약 등 다양한 분야의 재료 분석을위한 탁월한 기능을 제공하는 다재다능하고 강력한 X-ray 자산입니다. 고급 하드웨어 설계, 정밀 데이터 획득, 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스를 갖춘 전문가 프로 (Expert Pro) 는 원자 및 나노 스케일 (Nanoscale) 수준에서 광범위한 재료의 구성, 구조, 속성을 조사하기위한 포괄적인 솔루션을 제공합니다.