판매용 중고 JEOL JSX-3202EV #293665452

ID: 293665452
Element analyzer.
JEOL JSX-3202EV는 JEOL의 최첨단 X 선 장비입니다. X-ray 산업의 주요 제조업체 중 하나입니다. 비 파괴적인 원소 분석을 위해 설계된 고해상도 에너지 분산 X- 선 회절 (EDXRD) 시스템입니다. 이 장치는 500W 제논 양극과 초고속, 고출력, 180mm 원형 스캔 스테이지로 작동하여 탁월한 속도와 정확도를 제공합니다. X 선 발전기, 6 면 InSb X 선 검출기 및 표본 이동을 위해 샘플 조작기가 장착 된 현미경 캐비닛을 사용합니다. JSX-3202EV (JSX-3202EV) 를 사용하면 수평 방향과 수직 방향으로 물체의 다른 부분의 재료를 고속 샘플 분석할 수 있습니다. 이 기계는 0.1 ~ 1000 ms 범위의 광범위한 데이터 수집 속도를 제공합니다. 통합 샘플 (sample) 단계에서는 데이터 수집 중 샘플을 자동으로 회전시켜 완벽한 적용 범위를 보장할 수 있습니다. 빔 스팟 크기 (beam spot size) 와 발산 (divergence) 은 샘플 및 원하는 작동 영역에 쉽게 조정할 수 있습니다. 이러한 조정은 내장 샘플 스테이지와 원격으로 작동하는 포커스 (focus) 및 발산 슬라이더를 사용하여 이루어집니다. 빔 스팟 크기는 500nm로 정확하게 설정할 수 있으며, 다른 설정은 150nm에서 10äm입니다. 에셋은 또한 원소 맵, 면적 감도, 미세 분석 등 다양한 분석 모드를 제공합니다. JEOL JSX-3202EV는 고속 신호 처리를 사용하여 수집된 데이터의 정확성과 정확성을 향상시킵니다. 이 모델에는 0.15mm X-ray 슬릿 및 슬라이트리스 옵틱이 장착되어 있어 정확한 데이터 수집이 가능합니다. 이 장비는 EDXRD 외에도 X- 선 지형, 후면 흩어진 전자 이미징 및 X- 선 반사성을 포함한 X- 선 이미징을 제공합니다. 전반적으로 JSX-3202EV는 시장에서 가장 강력한 X 선 시스템 중 하나입니다. 고속 샘플 (High Speed Sample) 획득, 고급 분석 기술 및 수많은 설정으로 인해 모든 요소 분석 작업에 적합한 선택이 가능합니다.
아직 리뷰가 없습니다