판매용 중고 HITACHI X-Strata 920 #293810485

HITACHI X-Strata 920은 반도체 제조에서 재료 연구에 이르기까지 다양한 응용 분야에서 고성능 박막 분석을 위해 설계된 고급 X-ray 장비입니다. 이 최첨단 장비는 최첨단 기술을 통합하여 박막 구성, 두께, 구조를 정확하고 정확하게 측정합니다. X-Strata 920의 주요 기능 중 하나는 고해상도 X- 선 광학으로 나노 미터 스케일 해상도의 박막 (thin film) 을 자세히 분석 할 수 있습니다. 이 시스템에는 고광택 (High-Brilliance) X-ray 소스가 장착되어 있어 샘플의 최적의 흥분을 보장하고 분석의 감도를 향상시킵니다. 이것은 복잡한 층 구조 (layered structure) 와 초박막 (ultra-thin film) 을 분석하는 데 특히 중요하며, 여기서 정확한 측정은 재료 특성을 특성화하는 데 중요합니다. HITACHI X-Strata 920 에는 다양한 샘플 크기와 모양을 분석 할 수있는 다용도 샘플 (sample) 스테이지가 장착되어 있습니다. 이 장치는 수동 (manual) 및 자동 (automated) 샘플 로드를 모두 지원하므로 단일 실행에서 여러 샘플을 빠르고 효율적으로 분석할 수 있습니다. 또한, 샘플 스테이지를 기울이고 회전시켜 여러 유형의 박막 (thin film) 에 대한 측정 형상을 최적화하여 안정적이고 재생성적인 결과를 얻을 수 있습니다. 분석 능력 측면에서 X-Strata 920은 박막 특성화를위한 포괄적 인 측정 기술을 제공합니다. 이 기계에는 XRF (X-ray fluorescence) 분석이 포함되어 있으며, 이는 고감도 및 정밀도로 원소 구성 분석을 가능하게합니다. 이 기술은 박막에서 불순물 (impurity) 과 도펀트 (dopant) 를 식별하고 다층 필름 스택 내에서 개별 레이어의 두께를 측정하는 데 특히 유용합니다. 또한 HITACHI X-Strata 920에는 XRR (X-ray reflectivity) 및 GIXRD (방목 발생률 X-ray 회절) 기능이 장착되어 있어 박막의 구조와 형태에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. XRR은 박막의 밀도와 두께를 측정하는 데 사용되며, GIXRD는 박막 재료의 결정 구조, 격자 매개변수 및 방향을 분석하는 데 사용됩니다. 이러한 기술은 XRF 분석을 보완하고 박막 특성화에 대한 포괄적 인 접근 방식을 제공합니다. X-Strata 920 은 실험을 설정하고, 데이터를 수집하고, 결과를 분석할 수 있도록 사용자 친화적인 인터페이스를 제공하는 직관적인 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어에서는 사용자 지정 가능한 측정 프로토콜, 데이터 처리 알고리즘, 보고 툴을 사용할 수 있으며, 특정 연구/제조 요구 사항에 맞게 쉽게 분석을 조정할 수 있습니다. 게다가, 이 툴에는 선명한 데이터 시각화 툴 (advanced data visualization tools) 이 장착되어 있어, 사용자가 결과를 명확하고 간결하게 해석하고 시각화할 수 있습니다. 전반적으로 HITACHI X-Strata 920은 박막 분석을위한 강력하고 다양한 도구이며, 고급 분석 기능, 고감도, 정확한 측정 기능을 제공합니다. 연구 실험실, 품질 관리 환경, 반도체 제작 설비 등 에 사용 되든지 간 에, 이 기구 는 박막 재료 의 신빙성 있고 정확 한 특성 을 제공 해 주며, 연구가 들 과 엔지니어 들 이 물질적 특성 과 성능 을 최적화 하도록 돕는다. 그렇다.