판매용 중고 HITACHI / OXFORD X-Supreme 8000 #293811474

HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000은 다양한 업계의 고급 재료 분석 및 품질 제어를 위해 설계된 최첨단 X-ray 장비입니다. 최신 기술 혁신을 활용한 이 도구는 요소 분석, 오염 감지 (contamination detection), 재료 특성 (material characterization) 을 위한 정확하고 안정적인 측정 기능을 제공합니다. 옥스포드 X-슈프림 8000 (OXFORD X-Supreme 8000) 의 핵심에는 고해상도 X- 레이 튜브가 있으며, 이는 대상 재료의 흥분을 위해 X-ray의 집중 빔을 생성합니다. 이 X- 선 빔은 샘플과 상호 작용하여 재료 내의 원자가 특성 X- 선 형광 신호를 방출합니다. 그런 다음 이러한 신호는 매우 민감한 에너지 분산 X 선 검출기에 의해 검출되며, 이는 방출 된 X 선의 강도와 에너지를 기록합니다. 이 시스템에는 빠르고 정확한 원소 정량화가 가능한 고급 신호 처리 (advanced signal processing) 알고리즘이 장착되어 있습니다. X 선 형광 신호를 알려진 원소 서명 데이터베이스와 비교함으로써, HITACHI X-Supreme 8000은 샘플 내에 다양한 요소의 존재를 식별하고 정량화 할 수있다. 이 정보는 직관적이고 커스터마이징이 가능한 보고서 (Report) 에 수록되어 있으며, 이를 통해 사용자는 자료의 구성과 관련한 귀중한 통찰력을 얻을 수 있습니다. X-Supreme 8000 은 타의 추종을 불허하는 다양한 기능을 제공하며, 다양한 샘플 유형, 크기, 모양을 분석할 수 있습니다. 고체 재료 에서 분말, 액체, 박막 에 이르기 까지, 이 단위 는 쉽게 다양 한 표본 행렬 을 수용 할 수 있다. 또한, 이 기기는 더 큰 샘플의 자동 스캐닝 및 매핑을 가능하게하여 포괄적이고 대표적인 원소 분석 (elemental analysis) 을 보장하는 동력 샘플 스테이지를 특징으로합니다. 성능 측면에서 HITACHI/OXFORD X-Supreme 8000은 감도와 정밀도 모두에서 뛰어납니다. 고급 검출기 (detector technology) 와 최적화된 측정 매개변수를 사용하여 기계는 많은 요소에 대해 백만 부위 (parts-per-million) 수준까지 검출 제한을 달성 할 수 있습니다. 이 수준의 민감성은 반도체, 환경, 제약 산업 등 미량 원소 분석이 필수적 인 응용에 특히 중요합니다 (예: 반도체, 환경, 제약 산업). 또한, OXFORD X-Supreme 8000은 견고한 건축과 견고한 디자인으로 유명하며, 까다로운 산업 환경에 적합합니다. 이 툴은 지속적인 운영, 자주 사용할 수 있도록 설계되었습니다. 따라서 장기적인 안정성과 다운타임을 최소화할 수 있습니다. 게다가, 이 기구 는 가동 중 에 "유우저 '와 장비 를 모두 보호 하기 위한 포괄적 인 안전 기능 을 갖추고 있다. 전반적으로 HITACHI X-Supreme 8000은 비파괴 적 요소 분석 및 재료 특성화를위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 고급 기능, 탁월한 감도, 사용자 친화적 인 인터페이스로, 이 X-ray 자산은 연구원, 품질 관리 전문가, 분석 실험실 (analytical laboratories) 을 위한 귀중한 도구로서, 재료 분석 워크플로우에서 정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 얻으려고 합니다.