판매용 중고 FISHER SCIENTIFIC XDLM #9378146

FISHER SCIENTIFIC XDLM은 고성능, 신뢰성 및 에너지 효율적인 x- 선 측정을 위해 설계된 x- 선 회절 및 소형 각도 산란 장비입니다. 이 시스템은 2 차원 스펙트럼 분석, 고급 신호 처리, 데이터 관리 기능을 통합 한 완전한 장치입니다. 이 기계는 2 차원 이미지 분석 소프트웨어가 장착 된 고성능 컴퓨터 도구를 사용하여 낮은 각도 엑스레이 회절 (x-ray diffraction) 과 작은 각도 산란의 정확한 분석 측정을 제공합니다. 분광학 (spectroscopy) 은 단일 결정 모델의 최적화된 결정 형태를 사용하여 신뢰할 수있는 광학 자산 (optical asset) 을 기반으로하며, 이는 데이터의 스펙트럼 효율성과 해상도를 향상시키는 데 사용됩니다. 이 장비는 또한 아날로그 (Analog) 및 디지털 (Digital) 형식으로 데이터 수집 및 저장 기능을 제공하여 유연성과 사용 편의성을 제공합니다. 샘플 측정의 경우, XDLM은 스펙트럼 특성화를 위해 흑백 (monochromator) 과 정확한 측정을위한 검출기에 결합 된 고강도 x- 선 소스를 사용합니다. 검출기 (detector) 는 정확한 측정 및 데이터 수집을 위해 향상된 감지 속도로 설계되었습니다. 이 시스템은 또한 고급 신호 처리 (advanced signal processing) 기술을 사용하여 노이즈 레벨을 줄이고 신호 대 노이즈 비율을 최적화합니다. FISHER SCIENTIFIC XDLM은 x-ray 소스, 흑백 및 검출기 외에도 광학, 소프트웨어 및 정제, 진공 밀봉 가스 방전 소스를 안전하게 제공 할 수있는 압축기로 인터페이스 할 수 있습니다. 압축기는 가변 압력 제어 전달 머신 (variable pressure-controlled delivery machine) 을 제공하는 반면, 소프트웨어는 다양한 x-ray 매개 변수를 제어 할 수 있습니다. 데이터 수집 및 분석을 위해, XDLM 은 실시간 데이터 수집 및 분석을 위한 강력한 툴을 제공합니다. 이 자산은 자동화된 입자 식별, 추적, 데이터 통합을 통해 유연하고 사용자에게 친숙한 데이터 획득 모델을 제공합니다. 이 장비는 또한 여러 소스의 데이터를 기록, 분석할 수 있으며, 이를 통해 동시적인 운영 및 분석 작업을 수행할 수 있습니다. 데이터 획득 및 처리 기능 외에도, FISHER SCIENTIFIC XDLM 은 포괄적인 소프트웨어 제품군을 제공하여 데이터 분석을 지원합니다. 여기에는 데이터 해석, 자동화 및 결과 시각화 기능이 포함됩니다. 또한, 매개변수 추정, 선형 및 비선형 회귀 분석, 오류 분석 등 다양한 데이터 분석 기능을 제공합니다. 결론적으로, XDLM은 정확한 회절 및 작은 각도 산란 분석을 위해 설계된 강력하고 신뢰할 수있는 x- 레이 시스템입니다. 고급 신호 처리 (signal processing) 및 데이터 분석 기능과 더불어 데이터 수집, 처리, 시각화, 분석 등의 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치는 우수한 품질, 결과의 정확성을 제공하며, 모든 실험실의 필수 장치로 만듭니다.