판매용 중고 FISCHER Fischerscope XDL 230 #9249505
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ID: 9249505
X-Ray Fluorescence (XRF) spectrometer
Manual / Automated coating thickness measurement
Protective and decorative coatings
Mass produced parts and PC boards
X-Ray XDL-B Model series
Non-destructive thickness measurements
Analysis thin coatings
Measurements on mass-produced parts
PC Boards and solution analysis
Counter tube for precise measurements
FISCHER Fundamental parameter method
Coating systems
Solid and liquid samples
Detect up to:
(24) Elements in the range
From (17) Chlorine to (92) Uranium simultaneously
Measurement of electroplated mass-produced parts
Inspection of thin coatings: Decorative and chromium plating
Analysis of functional coatings: Electronics and semiconductor
Automated measurements: PC Boards.
FISCHER Fischerscope XDL 230은 FISCHER Analytical의 최첨단 X 선 장비입니다. 고급 X- 선 형광 기술을 통해 빠르고, 정확하고, 반복 가능한 샘플 분석을 허용합니다. XDL 230에는 CCD 검출기와 휴대용 샘플 챔버가 장착되어 있으며, 둘 다 X- 선 분석에 최적화되었습니다. 2 개의 1024x1024 어레이로 구성된 CCD 검출기는 샘플의 양쪽에서 X- 선 스펙트럼을 캡처합니다. 또한 이 어레이는 저소음 (low noise) 과 고감도 (high sensitivity) 에 최적화되어 정확한 샘플 데이터 분석을 가능하게 합니다. 샘플 챔버 (sample chamber) 는 쉽게 운송 및 설정할 수있는 모듈식 휴대용 장치입니다. 프리미엄 디자인은 샘플 검사 및 노출에 대한 최적의 조건을 보장합니다. XDL 230에는 고급 X-ray 감지 기능이 있습니다. X 선 에너지 범위는 최대 15 keV에 이르며, 초점 크기는 0.2 미크론에서 0.6 미크론입니다. 이 시스템은 또한 총 10 개의 X-ray 노출 매개변수를 제공하여 사용자가 최대의 정확도를 위해 스캔을 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 XDL 230은 오염 수준을 모니터링할 수 있어 품질 관리 (Quality Control) 및 환경 테스트 (Environmental Testing) 를 위한 탁월한 선택입니다. 또한 XDL 230은 사용하기 쉬운 여러 가지 데이터 해석 소프트웨어 도구를 제공합니다. 이러한 도구를 사용하면 오염 물질을 식별하고 샘플 구성을 측정할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 빠르고 직관적인 교정 및 조정 도구를 제공하여 사용자가 X-ray 결과를 신속하게 최적화할 수 있도록 합니다. XDL 230은 또한 사용자가 데이터를 공유하여 추가 분석을 할 수 있도록 자동 데이터 내보내기 장치 (automated data exporting unit) 를 제공합니다. 전반적으로 Fischerscope XDL 230은 강력한 운영 기능과 정교한 소프트웨어를 제공하는 고급 X-Ray 시스템입니다. 고감도 CCD 검출기, 종합적인 에너지 스펙트럼 및 직관적인 교정 도구를 갖춘 XDL 230은 빠르고 정확한 샘플 분석에 이상적인 선택입니다.
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