판매용 중고 BRUKER P4 #293824694

BRUKER P4는 재료 특성화에 대한 고급 기능을 제공하여 x- 선 회절 분야에 혁명을 일으키는 최첨단 x- 레이 장비입니다. 이 최첨단 시스템은 다양한 산업을위한 과학 기기 및 솔루션 제공 업체 인 BRUKER Corporation (BRUKER Corporation) 이 설계 및 제조했습니다. P4 장치는 혁신적인 기술과 기능을 통합하여 연구, 개발, 품질 관리 어플리케이션을 위한 고성능 X-ray 회절 분석을 제공합니다. BRUKER P4 기계의 핵심 구성 요소는 x- 선 소스이며, 회절 분석을 위해 고강도, 단색 x- 선 빔을 생성합니다. 이 도구는 뛰어난 밝기와 안정성으로 x- 레이를 생성하는 고출력, 마이크로 포커스 x- 레이 튜브를 사용합니다. 이를 통해 자산은 결정 물질, 박막 (thin film), 분말 (powder) 및 기타 샘플의 분석에서 높은 감도와 해상도를 달성 할 수 있습니다. P4 모델에는 회절 실험 중 정확한 샘플 포지셔닝 및 방향을 허용하는 고정밀 고니 오미터 (goniometer) 가 장착되어 있습니다. 이 goniometer를 사용하면 격자 매개변수, 결정 방향, 위상 구성 및 기타 재료의 구조 특성에 대한 정확한 측정을 수행 할 수 있습니다. 장비의 전동 샘플 스테이지 (motorized sample stage) 는 다양한 샘플 크기와 모양을 수용할 수 있으므로 다양한 유형의 샘플과 응용 프로그램에 다재다능합니다. BRUKER P4 시스템의 주요 기능 중 하나는 고급 검출기 (Advanced Detector Technology) 입니다. 여기에는 뛰어난 감도와 속도로 회절 패턴을 캡처하기위한 고해상도 2 차원 검출기가 포함됩니다. 이 장치의 탐지기 (detector) 는 실시간 데이터 수집 및 처리 기능을 제공하여 회절 패턴을 신속하게 분석하고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 검출기의 높은 동적 범위 (dynamic range) 와 낮은 소음 성능은 약한 회절 신호의 안정적이고 정확한 측정을 보장합니다. P4 머신은 복잡한 소프트웨어에 의해 제어되며, 이를 통해 사용자는 회절 (diffraction) 실험을 쉽게 설정하고 실행할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 실험 매개변수 구성, 기기 기능 제어, 회절 데이터 분석을 위한 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공합니다. 또한 회절 패턴, 수정 구조 정제, 위상 구성 정량화를 위한 고급 데이터 처리 알고리즘이 포함되어 있습니다. x-ray 회절 분석 외에도 BRUKER P4 도구에는 원소 분석을위한 XRF (x-ray fluorescence) 및 나노 구조 특성화를위한 SAXS (small-angle x-ray scattering) 와 같은 보완 기술이 장착 될 수 있습니다. 이러한 추가 기능은 자산의 다양성을 향상시키고, 단일 장치에서 종합적인 재료를 특성화할 수 있도록 합니다. 전반적으로, P4 x-ray 모델은 x-ray 회절 기술의 상당한 발전을 나타내며, 연구원과 과학자들은 재료의 구조적, 화학적 특성을 이해하는 강력한 도구를 제공합니다. 고성능 기능, 고급 기능 및 사용자 친화적 인 인터페이스를 갖춘 BRUKER P4 장비는 재료 과학, 화학, 지질학, 제약 및 기타 과학 분야의 광범위한 응용을위한 필수 도구입니다.