판매용 중고 BRUKER NANOSTAR #9235860

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ID: 9235860
빈티지: 2013
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) system Non-destructive: Investigation of 3 dimensional structures Part number: 7KP28028MA 862-063701 862-842800 862-829400 PM1000 Part number: C79298A3158B46 Plug-in slit, 6 mm Part number: 862-062201 Fe55 Calibration source Part number: P5000110 Set of ten built-in nano particle models: Basic geometrical models (Spherical, spherical shell, ellipsoidal, cylindrical) Selected polymer models (Flexible and semi-flexible chains, gaussian star, spherical block copolymer micelle) Tabletop: (2) Stable granite tablets Tabletop dimension: 3540 x 950 mm Collimation system: Diameters and distances: Pinhole 1: 750 μm Pinhole 2: 400 μm Pinhole 3: 1000 μm Distance pinhole 1 - Pinhole 2: 925 mm Distance pinhole 2 - Pinhole 3: 485 mm Copper anode Power: 45 kV at 0.65 mA Integrated MONTEL optics: Length: 60 mm Output divergence: 1 mrad Output beam dimension: 0.64 mm Output flux: 2 x 10^7 cps Radiation tight housing with be-entrance and exit window enabling evacuation (4) Manual setting screws XL Sample chamber: 2-Dimensional VANTEC-2000 detector with mounting base Beam path tube of 400 mm length with mounting base Beam stop frame with two beam stops of 4.31 mm and 3.15 mm diameter VANTEC-2000 Detector True photon counting X-ray detector Wide energy range: 4 keV up to 12 keV Active area: 140 mm x 140 mm Usable wavelength range: Cr-Ka to Cu-Ka (Factory set for Cu-Ka) Energy resolution: <25 % Operational mode: 2048 x 2048 1024 x 1024 / 512 x 512 Channels Pixel size: 68 μm x 68 μm Spatial resolution: < 100 μm RMS Maximum global count rate: 10^6 cps Maximum local count rate: 3 x 10³ cps/pixel Background noise: < 5.0 10^-4 cps/mm² Operational gas: Xe-CO2 Operating conditions: Temperature: 15°C - 30°C Humidity: Up to 80 % RH Frame buffer: Dedicated frame buffer PC With proprietary parallel detector interface Mouse and keyboard Capacity of disk drives and CD-RW, DVD-ROM, hard disk RAM: State of the art User selectable frame display Real color display of data Graphical evaluation of one-dimensional data sets: Display and comparison of measured and simulated data Simple, interactive evaluation of SAXS measurements Wide selection of commonly used axis scaling Automatic fitting: Different refinement methods for automatic evaluation: Levenberg-Marquardt Online display of intermediate results (Text and graphic) Particle size distribution and change of c2 cost function 2013 vintage.
BRUKER NANOSTAR는 X-ray 산업의 글로벌 리더 인 BRUKER가 개발 한 X-ray 장비입니다. 연구, 산업 및 항공 우주 샘플의 비 파괴 분석을 위해 설계되었으며, 내부 및 표면 구조의 나노 미터 규모 측정을 제공합니다. NANOSTAR 시스템은 X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유한 조합을 사용하여 저용량 이미징 환경에서도 500 나노미터 해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. X- 선 소스는 고도로 집중된 코발트 -60 빔 (cobalt-60 beam) 으로, 샘플에 정확하게 향하지만 장치의 다른 구성 요소를 피합니다. 이 기능은 뛰어난 샘플 이미징 (sample imaging) 과 정확한 용량으로 상세한 이미지를 얻을 수 있도록 합니다. BRUKER NANOSTAR 시스템은 고급 데이터 수집, 이미지 처리 및 분석 기능도 갖추고 있습니다. 데이터를 여러 형식으로 수집하여 저장할 수 있으므로, 신속하게 데이터를 분석할 수 있습니다. 이미지 처리 도구 (Image processing tools) 를 사용하여 해상도와 대비를 개선하여 사용자가 나노미터 배율에서 피쳐를 효과적으로 검사할 수 있습니다. 또한, 내장 분석 도구를 사용하여 샘플의 모양, 크기, 다공성 및 기타 특성을 측정 할 수 있습니다. NANOSTAR X- 선 도구는 다양한 연구, 산업 및 항공 우주 샘플을 파괴하지 않는 분석을위한 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 및 강력한 데이터 처리 기능을 통해 복잡한 샘플 구조를 최소한의 침습적 방식으로 자세히 검사하고 분석할 수 있습니다. X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유 한 조합으로 BRUKER NANOSTAR 자산은 X- 선 비 파괴 분석을위한 업계의 선두 주자입니다.
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