판매용 중고 BRUKER NANOSTAR #9235860
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판매
ID: 9235860
빈티지: 2013
Small Angle X-Ray Scattering (SAXS) system
Non-destructive: Investigation of 3 dimensional structures
Part number:
7KP28028MA
862-063701
862-842800
862-829400
PM1000
Part number: C79298A3158B46
Plug-in slit, 6 mm
Part number: 862-062201
Fe55 Calibration source
Part number: P5000110
Set of ten built-in nano particle models:
Basic geometrical models (Spherical, spherical shell, ellipsoidal, cylindrical)
Selected polymer models (Flexible and semi-flexible chains, gaussian star, spherical block copolymer micelle)
Tabletop:
(2) Stable granite tablets
Tabletop dimension: 3540 x 950 mm
Collimation system:
Diameters and distances:
Pinhole 1: 750 μm
Pinhole 2: 400 μm
Pinhole 3: 1000 μm
Distance pinhole 1 - Pinhole 2: 925 mm
Distance pinhole 2 - Pinhole 3: 485 mm
Copper anode
Power: 45 kV at 0.65 mA
Integrated MONTEL optics:
Length: 60 mm
Output divergence: 1 mrad
Output beam dimension: 0.64 mm
Output flux: 2 x 10^7 cps
Radiation tight housing with be-entrance and exit window enabling evacuation
(4) Manual setting screws
XL Sample chamber:
2-Dimensional VANTEC-2000 detector with mounting base
Beam path tube of 400 mm length with mounting base
Beam stop frame with two beam stops of 4.31 mm and 3.15 mm diameter
VANTEC-2000 Detector
True photon counting X-ray detector
Wide energy range: 4 keV up to 12 keV
Active area: 140 mm x 140 mm
Usable wavelength range: Cr-Ka to Cu-Ka (Factory set for Cu-Ka)
Energy resolution: <25 %
Operational mode:
2048 x 2048
1024 x 1024 / 512 x 512 Channels
Pixel size: 68 μm x 68 μm
Spatial resolution: < 100 μm RMS
Maximum global count rate: 10^6 cps
Maximum local count rate: 3 x 10³ cps/pixel
Background noise: < 5.0 10^-4 cps/mm²
Operational gas: Xe-CO2
Operating conditions:
Temperature: 15°C - 30°C
Humidity: Up to 80 % RH
Frame buffer:
Dedicated frame buffer PC
With proprietary parallel detector interface
Mouse and keyboard
Capacity of disk drives and CD-RW, DVD-ROM, hard disk
RAM: State of the art
User selectable frame display
Real color display of data
Graphical evaluation of one-dimensional data sets:
Display and comparison of measured and simulated data
Simple, interactive evaluation of SAXS measurements
Wide selection of commonly used axis scaling
Automatic fitting:
Different refinement methods for automatic evaluation:
Levenberg-Marquardt
Online display of intermediate results (Text and graphic)
Particle size distribution and change of c2 cost function
2013 vintage.
BRUKER NANOSTAR는 X-ray 산업의 글로벌 리더 인 BRUKER가 개발 한 X-ray 장비입니다. 연구, 산업 및 항공 우주 샘플의 비 파괴 분석을 위해 설계되었으며, 내부 및 표면 구조의 나노 미터 규모 측정을 제공합니다. NANOSTAR 시스템은 X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유한 조합을 사용하여 저용량 이미징 환경에서도 500 나노미터 해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. X- 선 소스는 고도로 집중된 코발트 -60 빔 (cobalt-60 beam) 으로, 샘플에 정확하게 향하지만 장치의 다른 구성 요소를 피합니다. 이 기능은 뛰어난 샘플 이미징 (sample imaging) 과 정확한 용량으로 상세한 이미지를 얻을 수 있도록 합니다. BRUKER NANOSTAR 시스템은 고급 데이터 수집, 이미지 처리 및 분석 기능도 갖추고 있습니다. 데이터를 여러 형식으로 수집하여 저장할 수 있으므로, 신속하게 데이터를 분석할 수 있습니다. 이미지 처리 도구 (Image processing tools) 를 사용하여 해상도와 대비를 개선하여 사용자가 나노미터 배율에서 피쳐를 효과적으로 검사할 수 있습니다. 또한, 내장 분석 도구를 사용하여 샘플의 모양, 크기, 다공성 및 기타 특성을 측정 할 수 있습니다. NANOSTAR X- 선 도구는 다양한 연구, 산업 및 항공 우주 샘플을 파괴하지 않는 분석을위한 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 및 강력한 데이터 처리 기능을 통해 복잡한 샘플 구조를 최소한의 침습적 방식으로 자세히 검사하고 분석할 수 있습니다. X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유 한 조합으로 BRUKER NANOSTAR 자산은 X- 선 비 파괴 분석을위한 업계의 선두 주자입니다.
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