판매용 중고 BRUKER NANOSTAR #293731813
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ID: 293731813
X-Ray Diffraction (XRD) system
Modular: SAXS
VANTEC-2000 2D Detector
Micro-focused beam
X-Ray source
Detector distance: 1 m with q-range < 0.2 A-1
Sample holder for solid and liquid.
BRUKER NANOSTAR는 X-ray 산업의 글로벌 리더 인 BRUKER가 개발 한 X-ray 장비입니다. 연구, 산업 및 항공 우주 샘플의 비 파괴 분석을 위해 설계되었으며, 내부 및 표면 구조의 나노 미터 규모 측정을 제공합니다. NANOSTAR 시스템은 X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유한 조합을 사용하여 저용량 이미징 환경에서도 500 나노미터 해상도 이미지를 얻을 수 있습니다. X- 선 소스는 고도로 집중된 코발트 -60 빔 (cobalt-60 beam) 으로, 샘플에 정확하게 향하지만 장치의 다른 구성 요소를 피합니다. 이 기능은 뛰어난 샘플 이미징 (sample imaging) 과 정확한 용량으로 상세한 이미지를 얻을 수 있도록 합니다. BRUKER NANOSTAR 시스템은 고급 데이터 수집, 이미지 처리 및 분석 기능도 갖추고 있습니다. 데이터를 여러 형식으로 수집하여 저장할 수 있으므로, 신속하게 데이터를 분석할 수 있습니다. 이미지 처리 도구 (Image processing tools) 를 사용하여 해상도와 대비를 개선하여 사용자가 나노미터 배율에서 피쳐를 효과적으로 검사할 수 있습니다. 또한, 내장 분석 도구를 사용하여 샘플의 모양, 크기, 다공성 및 기타 특성을 측정 할 수 있습니다. NANOSTAR X- 선 도구는 다양한 연구, 산업 및 항공 우주 샘플을 파괴하지 않는 분석을위한 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 및 강력한 데이터 처리 기능을 통해 복잡한 샘플 구조를 최소한의 침습적 방식으로 자세히 검사하고 분석할 수 있습니다. X- 선 소스 및 감지 구성 요소의 고유 한 조합으로 BRUKER NANOSTAR 자산은 X- 선 비 파괴 분석을위한 업계의 선두 주자입니다.
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