판매용 중고 BRUKER / ENRAF-NONIUS FR590 #9243923

BRUKER/ENRAF-NONIUS FR590은 결정 물질의 고해상도 분석 및 영상을 허용하는 X- 선 회절 장비입니다. 이것 은 사람 들 이 작은 분자, 거대 분자, 심지어 는 "나노 '입자 의 구조 와 특성 을 연구 하는 정확 하고 편리 한 방법 을 제공 하도록 설계 되었다. 작동시, X- 선 방사선은 측정 할 샘플을 통해 전송됩니다. 샘플의 유형에 따라, 단일 검출기 또는 다중 검출기를 사용하여 X- 레이를 감지 할 수 있습니다. 검출기 시스템은 자동화된 데이터 수집을 허용하는 고급 소프트웨어 (advanced software) 패키지와 결합됩니다. 또한 X 선 에너지 (X-ray energy) 의 특정 상태를 대상으로 삼아 샘플을 더 자세히 조사 할 수 있습니다. 방사선 원과 검출기를 제외하고 BRUKER FR590의 주요 구성 요소에는 goniometer, divergent slit 및 analyzer가 포함됩니다. goniometer는 X 선 회절 측정 중 입사각을 제어하는 장치입니다. 발산 슬릿 (divergent slit) 은 샘플에 도달하기 위해 X 선을 통과해야하는 좁은 개구부입니다. 분석기는 검출기에서 특정 X- 선 에너지를 선택하는 데 사용됩니다. ENRAF-NONIUS FR590은 다양한 응용 프로그램과 기능을 제공합니다. 거대 한 분자 의 연구 는 물론, 거대 분자 들, 표면 확산, 층 구조 의 장애 등 을 연구 하는 데 사용 될 수 있다. 그 들 은 "깨어라!" ( 또한, 다중 검출기 설정 (multiple detector setup) 을 사용함으로써, 장치는 복잡한 샘플에서 서로 다른 위상을 해결할 수 있으며, 각 위상의 크기, 모양, 구성을 정확하게 평가할 수 있습니다. 이 시스템에는 데이터 수집 소프트웨어의 최신 발전도 포함되어 있습니다. 자동화된 소프트웨어 루틴을 통해 데이터를 신속하게 수집, 처리, 보기 및 분석할 수 있습니다. 또한, 소프트웨어를 사용하면 샘플별로 데이터 수집 및 분석 (analysis) 을 사용자 정의할 수 있으며, 이 툴은 적응력이 높고 유연합니다. FR590 은 가장 복잡한 실험에도 정확하고 안정적인 결과를 제공하도록 설계되었습니다. 고급 X-ray 감지 (X-ray detection) 및 데이터 분석 (data analysis) 기능과 강력한 소프트웨어 툴을 함께 사용하면 샘플의 구조와 특성을 더 잘 이해하고자 하는 모든 사람에게 이상적인 선택이 됩니다.