판매용 중고 BRUKER D8 Advance Series II #293757091

BRUKER D8 Advance Series II는 연구 및 산업 환경에서 고성능 재료 분석을 위해 설계된 최첨단 X 선 회절계 장비입니다. 이 고급 기기는 정밀 엔지니어링과 최첨단 기술을 결합하여 결정학 (crystallography) 과 위상 분석 (phase analysis) 에서 박막 특성 (thin film characterization) 및 잔류 스트레스 측정 (residual stress measurement) 에 이르기까지 광범위한 응용 프로그램에 대해 안정적이고 정확한 결과를 제공합니다. D8 Advance Series II의 중심에는 고강도 X- 선 소스 (일반적으로 구리 또는 코발트 방사선 튜브) 가 있으며, 파장 해상도가 우수한 단색 X- 레이를 생성 할 수 있습니다. 이 강력한 공급원은 재료의 원자 및 분자 구조에 대한 심층 조사를 허용하며, 연구원은 결정 단계를 식별하고, 결정 학적 방향을 분석하고, 예외적 인 정밀도로 격자 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 여러 축의 회전 (rotation) 을 갖는 다목적 고니 오미터 (goniometer) 를 갖추고 있으며, 다양한 형상에서 유연한 샘플 포지셔닝 및 최적화된 데이터 수집이 가능합니다. 이를 통해 사용자는 파우더 회절 (powder diffraction), 박막 분석 (thin film analysis), 방목 발병 회절 (방목 발병 회절) 등 다양한 회절 실험을 쉽게 수행할 수 있습니다. BRUKER D8 Advance Series II에는 섬광 카운터 (scintillation counter) 또는 솔리드 스테이트 검출기 (solid-state detector) 와 같은 고해상도 검출기 장치가 장착되어 있어 뛰어난 감도와 공간 해상도로 회절 X 선을 캡처할 수 있습니다. 이 검출기는 우수한 신호 대 잡음 비율을 제공하여 기계가 약한 회절 피크를 감지하고 복잡한 샘플에서 위상 구성을 정확하게 정량화 할 수 있습니다. 이 툴은 사용자에게 데이터 수집, 분석, 시각화 (visualization) 를 위한 사용자에게 친숙한 인터페이스를 제공하는 직관적인 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 이 소프트웨어를 사용하면 자동화된 매개변수 최적화, 실시간 데이터 처리, 사용자 지정 데이터 보고, 워크플로우 간소화, 재현이 가능한 결과 보장 등의 작업을 수행할 수 있습니다. D8 Advance Series II 는 다양한 고급 기능과 액세서리 (옵션) 를 제공하여 기능을 향상시키고 다양한 연구 요구를 충족합니다. 여기에는 위상 전이를 연구하기위한 가변 온도 챔버, 자동 측정을위한 고 처리량 샘플 체인저, 소규모 및 현지화 된 샘플을 분석하기위한 마이크로 포커스 X- 선 소스가 포함됩니다. 강력한 분석 기능 외에도 BRUKER D8 Advance Series II는 사용자 편의성과 안전성을 염두에 두고 설계되었습니다. 자산에는 고급 방사선 차폐 (Radiation Shielding), 인터 록 (Interlock) 및 안전 프로토콜 (Safety Protocol) 이 장착되어 운영 중 운영자와 주변 인력의 보호를 보장합니다. 전반적으로 D8 Advance Series II는 다재다능하고 신뢰할 수있는 X- 선 회절계 모델로, 학술, 산업 및 연구 환경의 재료 분석에 탁월한 성능을 제공합니다. 첨단 기술, 정밀 엔지니어링 (Precision Engineering), 사용자 친화적 인 설계로, 이 도구는 뛰어난 정확성과 효율성을 지닌 광범위한 재료의 구조와 특성을 특성화하는 데 유용한 도구입니다.