판매용 중고 BRUKER D4 Endeavor #9294641
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ID: 9294641
X-Ray Diffractometer (XRD)
With point (0-D) detector
Diffracted beam monochromator.
BRUKER D4 Endeavor는 구조 재료 연구를 위해 설계된 최첨단 x-ray Diffractometer 장비입니다. 최첨단 흑백 광학 기술 및 세계에서 가장 밝은 X 선 소스를 사용하여 결정 구조 분석에 이상적인 플랫폼을 만듭니다. D4 엔데버 (Endeavor) 는 고해상도 회절 데이터를 사용하기 쉬운 인터페이스와 결합하여 다양한 구조물질 (예: 결정, 화합물, 합금) 을 분석하고 특성화하는 데 이상적인 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 x-ray 소스, x-ray 스펙트럼 선택을위한 단색 장치, 검출기, 샘플 체인저 및 데이터 획득, 데이터 분석 및 매개변수 최적화를 위해 별도의 컴퓨터 플랫폼으로 분할 된 데이터 획득 장치 (Data acquisition unit) 의 여러 구성 요소로 구성됩니다. x- 선 소스는 원하는 응용 프로그램에 따라 최적화 된 파장을 선택할 수있는 Cu 대상 X- 선 튜브 (Cu target X-ray tube) 로 최소 시간 스케일에서 결정 구조 분석을 가능하게합니다. 소스 (source) 의 작동은 측정된 매개변수의 최대 성능과 예측 가능성을 보장하도록 설계되었습니다. 단색 장치 (Monochromator) 는 더 다양한 응용 분야를 다루는 초소형 각도 분기가있는 Mo/Be Dual Crystal 단색 장치입니다. 조정 가능한 슬릿 머신 (slit machine) 을 사용하여 측정 과정에서 왜곡을 최소화할 수 있습니다. 샘플 교환기 (sample changer) 는 수동 운영자 개입 없이 샘플 사이를 빠르게 전환하여 빠르고 정확한 데이터 입수를 보장하는 데 사용됩니다. 검출기 도구 (Detector Tool) 는 위치 감지 다이오드 배열이 있는 평면 패널 검출기로 구성되며, 각기 다른 탐지 목표를 위해 서로 다른 컨라이메이터 렌즈 (Collimator Lens) 어셈블리로 구성할 수 있습니다. 데이터 획득 자산 (Data Acquisition Asset) 은 강력한 분할 컴퓨터 모델로 회절 매개변수를 획득, 분석 및 최적화하는 데 사용할 수 있습니다. 소프트웨어 패키지에는 데이터 획득, 데이터 분석, 측정 매개변수 최적화를 위한 전용 기능이 들어 있습니다. 데이터 분석 소프트웨어는 피크 피팅 (Peak Fitting) 알고리즘을 활용하여 정확도를 극대화하고 최소 시간 내에 고품질 회절 데이터를 생성합니다. 요약하면, BRUKER D4 Endeavor는 결정 구조 분석을위한 강력하고 효율적인 x- 선 회절계 장비입니다. 고급 흑백 광학 장치, 업계에서 가장 밝은 x- 레이 소스, 분할 컴퓨터 시스템을 사용하여 회절 매개변수를 빠르고, 안정적으로 수집, 분석, 최적화합니다.
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