판매용 중고 BRUKER-AXS D8 Endeavor #293761278

BRUKER-AXS D8 Endeavor는 고급 재료 연구 및 분석을 위해 설계된 고성능 X 선 장비입니다. 이 최첨단 기기는 최첨단 기술을 통합하여 연구원들에게 구조적 특성 및 정량적 위상 분석을위한 강력한 기능을 제공합니다. 이 시스템은 고체 물리, 화학, 재료 과학, 지질학 및 의약품과 같은 다양한 과학 분야에서 널리 사용됩니다. D8 엔데버 (Endeavor) 의 중심부에는 물질의 원자 구조를 조사하기위한 강렬한 방사선을 생성하는 고출력 X- 선 소스가 있습니다. 이 장치는 다른 샘플 유형 및 특정 분석 요구 사항에 맞게 Cu Ki 방사선 (1.5406 Å) 또는 Mo Ko 방사선 (0.7107 Å) 과 같은 다양한 X- 선 생성 기술을 사용합니다. 이러한 유연성을 통해 연구원들은 특정 응용 분야에 X 선 파장을 조정하여 광범위한 재료를 상세하고 정확하게 분석 할 수 있습니다 (영문). BRUKER-AXS D8 엔데버 (Endeavor) 에는 뛰어난 정확도로 자동 샘플 포지셔닝 및 회전을 가능하게 하는 고정밀 goniometer가 장착되어 있습니다. 이 샘플 방향 제어는 고품질 회절 데이터 수집, 신뢰할 수 있는 구조 정보 획득에 필수적입니다. 이 기계는 또한 섬광 탐지기 (scintillation detector) 또는 고체 탐지기 (solid-state detector) 와 같은 고급 탐지기 (diffraced X-ray) 를 특징으로합니다. D8 Endeavor의 주요 기능 중 하나는 재료의 결정 학적 구조를 결정하는 강력한 기술 인 XRD (X-ray diffraction) 분석을 수행 할 수있는 능력입니다. 회절 된 X- 레이의 각도와 강도를 측정함으로써, 연구자들은 결정 위상을 식별하고, 격자 매개변수를 결정하고, 샘플에서 결정 결함을 특성화할 수있다. 이 도구는 다양한 실험 요건에 맞게 연속 스캔, 스텝 스캔, 로킹 커브 스캔 (rocking curve scan) 과 같은 다양한 스캐닝 모드를 제공합니다. BRUKER-AXS D8 Endeavor는 XRD 분석 외에도 X- 선 반사계, 방목 발생률 X- 선 회절 (GIXRD) 및 X- 선 형광 (XRF) 분석을 수행 할 수 있습니다. 이러한 기술은 박막 구조, 서피스 특성, 원소 구성 및 재료의 레이어 두께에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. 이 자산의 다양성과 고성능 기능은 광범위한 연구 응용프로그램을 위한 필수 불가결한 도구입니다 (영문). D8 Endeavor 는 직관적인 운영, 데이터 시각화, 분석 툴을 제공하는 사용자 친화적인 소프트웨어에 의해 관리됩니다. 연구자들은 간단한 클릭으로 실험을 쉽게 설정하고, 매개변수를 조정하고, 결과를 분석할 수 있습니다. 또한 데이터 처리, 피크 피팅 (Peak Fitting), 단계 식별 및 수정 구조 개선이 가능하므로 포괄적인 데이터 해석 및 보고가 용이합니다. 요약하면, BRUKER-AXS D8 Endeavor는 재료 연구 및 분석을위한 고급 기능을 제공하는 정교한 X-ray 모델입니다. 고출력 X- 선 소스, 정확한 고니 오미터 (goniometer), 고급 검출기 (advanced detector) 및 다목적 분석 기술로, 연구자들은 전례없는 정확성과 세부 사항으로 재료의 구조적 특성을 조사 할 수 있습니다. D8 엔데버 (D8 Endeavor) 는 크리스탈린 단계, 박막, 원소 구성을 연구할 때 다양한 분야에서 과학적 지식과 발견을 발전시키는 데 필요한 도구와 성능을 제공합니다.