판매용 중고 BRUKER-AXS D8 Advance #293799717

BRUKER-AXS D8 Advance는 연구, 학계 및 산업을 포함한 다양한 분야의 고급 재료 분석을 위해 설계된 최첨단 X 선 회절 장비입니다. 이 고성능 기기는 최첨단 기술 (최첨단 기술) 을 통합하여 연구원들에게 결정질 재료의 구조적 특성화를위한 정확하고 안정적인 데이터를 제공합니다. D8 Advance의 중심에는 결정 학적 분석을 위해 X- 레이의 집중된 빔을 생성 할 수있는 고강도 X- 선 소스가 있습니다. 이 시스템에는 최적의 빔 공조 및 단색화 (Monochromatization) 를 보장하는 고품질 광학 장치가 장착되어 있어 측정 정확도와 해상도가 우수합니다. X- 선 소스는 다양한 샘플 유형 및 연구 요구 사항을 수용하기 위해 구리 (Cu), 몰리브덴 (Mo) 또는 크롬 (Cr) 과 같은 다양한 대상 재료로 구성 될 수 있습니다. BRUKER-AXS D8 Advance의 주요 기능 중 하나는 다용도 샘플 처리 기능입니다. 기계에는 X 선 빔 (X-ray beam) 에 대한 샘플의 정확한 위치 및 방향을 허용하는 고급 고니 오미터 (goniometer) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 연구원들은 분말 회절, 단일 결정 회절, 박막 분석 등 다양한 회절 실험을 수행 할 수 있습니다. 고니 오미터 (goniometer) 는 자동화된 데이터 수집을 위해 동력화 될 수 있으며, 실험실의 효율성과 생산성을 높입니다. D8 Advance는 전통적인 회절 기술 외에도 잔류 스트레스 분석, 텍스처 분석, 방목 발병 회절 등의 고급 측정 모드도 제공합니다. 이러한 전문 기술은 재료의 기계적 특성, 미세 구조, 방향 분포에 대한 귀중한 통찰력을 제공하며, 이 도구는 재료 과학 연구 및 개발에 이상적입니다. BRUKER-AXS D8 Advance는 정교한 소프트웨어에 의해 제어되며, 이를 통해 연구원은 실험 매개변수를 사용자 정의하고, 데이터를 실시간으로 분석하고, 포괄적인 보고서를 생성할 수 있습니다. 소프트웨어 인터페이스는 사용자 친화적이며 직관적이며, 초보자 (초보자) 와 숙련된 사용자 모두 복잡한 실험을 손쉽게 탐색할 수 있습니다. 고급 데이터 처리 알고리즘은 피팅 (Peak Fitting), 위상 식별 (Phase Identification) 및 구조 개선에 사용할 수 있으므로 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다. 계측 측면에서, D8 Advance에는 뛰어난 감도와 속도로 회절 X 선을 캡처 할 수있는 고해상도 검출기가 장착되어 있습니다. 검출기 기술은 자산의 구성에 따라 다를 수 있으며, 특정 연구 요구에 따라 사용 가능한 신틸레이션 카운터 (scintillation counter), 반도체 검출기 (semiconductor detector) 또는 하이브리드 픽셀 검출기 (hybrid pixel detector) 와 같은 옵션이 있습니다. 전반적으로 BRUKER-AXS D8 Advance는 강력한 X-ray 회절 모델로, 재료의 구조적 특성에 대한 탁월한 성능과 다재다능성을 제공합니다. 첨단 기술, 고급 측정 모드 (Advanced Measuration Mode), 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스 (User-Friendly Software Interface) 를 갖춘 이 도구는 재료 과학의 경계를 밀고 결정 구조의 비밀을 밝히는 데 필수적인 도구입니다.