판매용 중고 BRUKER-AXS AXS D8 Discover #9260683

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ID: 9260683
웨이퍼 크기: 2"-4"
빈티지: 2010
X-Ray Diffractometer (XRD), 2"-4" 2010 vintage.
BRUKER-AXS AXS D8 Discover는 요소 분석을 위해 특별히 설계된 X- 선 장비입니다. 회절계, 고니 오미터, 관련 검출기 및 샘플 환경 구성 요소를 사용하여 X- 선 회절 (XRD) 및 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광법을 모두 제공 할 수 있습니다. 이 시스템에는 회전식 (rotating) 양극 X- 선 소스가 장착되어 있으며, 빠르고, 쉽고, 신뢰할 수있는 측정에서 사용 편의성에 중점을 둔 인상적인 스위칭 속도를 반영합니다. BRUKER-AXS D8 DISCOVER는 상세한 X- 선 회절 결과를 생성 할 수 있으며, 결정 상 및 비정질 상, 소형 분자 샘플 및 박막의 정확한 측정을 제공합니다. 이 장치에는 커다란 커버리지 기능이 있으며, 지름 0.01mm의 샘플부터 지름 6mm 이상의 샘플까지 측정 할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 효율적인 데이터 관리 및 분석을 위한 직관적이고 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 갖추고 있습니다. 이 도구는 5 °/s 샘플 회전 속도로 구동되며, 이는 빠르고 정확한 표면 매핑을 생성하며, 3 °/s 스캔 속도로 고속 측정을 가능하게합니다. 또한 360 ° 스캔 범위를 가능하게하는 3 개의 독립적 인 구동 축이 장착되어 있습니다. 또한이 자산은 가변 각도 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광법 및 스캔 EDX가 가능하며, 이는 원소 구성 및 광학 현미경 이미지를 제공합니다. 이 모델은 X 선 컴포넌트 및 검출기를 빠르고 쉽게 조정할 수 있도록 설계되었으며, 샘플 포지셔닝 및 샘플 방향 지정 기능이 향상되었습니다. 접근성 측면에서 볼 때, 장비의 인체 공학적 설계 (ergonomic design) 와 조절 가능한 기반은 모든 실험실 및 연구 환경에 쉽게 맞출 수 있습니다. 이 시스템은 내구성이 뛰어나며, 견고한 기계적 구조, 향상된 광학 장치, 최적화된 전자제품 (Optimized Electronics) 으로 인해 안정적인 결과와 가동 중지 시간이 거의 없으며, 모든 요소 분석 요구에 귀중한 도구입니다.
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